基于电引信的多功能起爆控制电路研究与设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第12-17页 |
| 1.1 选题研究背景及意义 | 第12-14页 |
| 1.1.1 选题背景 | 第12-14页 |
| 1.1.2 选题目的及意义 | 第14页 |
| 1.2 电引信引爆技术国内外研究发展现状 | 第14-16页 |
| 1.3 课题主要研究工作及基本目标 | 第16页 |
| 1.4 论文的章节安排 | 第16-17页 |
| 第2章 起爆控制电路工作模式及其实现方案 | 第17-35页 |
| 2.1 工作模式 | 第17-19页 |
| 2.2 实现方案 | 第19-34页 |
| 2.2.1 硬件 | 第20-27页 |
| 2.2.2 软件 | 第27-34页 |
| 2.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 硬件抗高过载 | 第35-43页 |
| 3.1 军用微电子抗高过载 | 第35-36页 |
| 3.2 抗高过载水平的表征方式 | 第36页 |
| 3.3 抗高过载水平与材料力学性能 | 第36-38页 |
| 3.3.1 高过载条件下微电路的受力形式 | 第36-37页 |
| 3.3.2 与抗高过载有关的材料力学指标 | 第37-38页 |
| 3.3.3 高过载条件下的失效模式和应力极限 | 第38页 |
| 3.4 抗高过载能力试验方法 | 第38-39页 |
| 3.4.1 实弹射击试验方法 | 第39页 |
| 3.4.2 落锤冲击试验方法 | 第39页 |
| 3.4.3 马歇特锤击试验方法 | 第39页 |
| 3.4.4 霍普金森杆试验方法 | 第39页 |
| 3.4.5 空气炮加载试验方法 | 第39页 |
| 3.5 抗高过载分析 | 第39-40页 |
| 3.5.1 电路基板的抗高过载水平 | 第39-40页 |
| 3.5.2 电路组装后的抗高过载水平 | 第40页 |
| 3.5.3 金属外壳本身的抗高过载水平 | 第40页 |
| 3.6 电路抗高过载方案 | 第40-41页 |
| 3.7 电路抗高过载测试结果 | 第41-42页 |
| 3.8 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 电磁兼容性 | 第43-53页 |
| 4.1 外部射频电磁环境 | 第43-45页 |
| 4.1.1 滤波 | 第43页 |
| 4.1.2 屏蔽 | 第43-44页 |
| 4.1.3 接地 | 第44页 |
| 4.1.4 线路设计及布线 | 第44页 |
| 4.1.5 干扰和敏感性控制 | 第44页 |
| 4.1.6 电源系统 | 第44页 |
| 4.1.7 静电电荷控制 | 第44-45页 |
| 4.1.8 其它 | 第45页 |
| 4.1.9 电磁兼容试验项目 | 第45页 |
| 4.1.10 验收准则 | 第45页 |
| 4.2 电磁兼容性分析 | 第45-46页 |
| 4.3 电磁兼容性指标 | 第46-48页 |
| 4.3.1 设计依据 | 第46页 |
| 4.3.2 定性要求 | 第46-47页 |
| 4.3.3 定量指标 | 第47-48页 |
| 4.4 起爆控制电路的电磁兼容性设计 | 第48-52页 |
| 4.4.1 起爆控制电路的静电干扰及防护措施 | 第48页 |
| 4.4.2 起爆控制电路的雷电防护技术 | 第48页 |
| 4.4.3 起爆控制电路外壳的屏蔽技术 | 第48页 |
| 4.4.4 印制电路板设计的电磁兼容性分析 | 第48-49页 |
| 4.4.5 起爆控制电路设计的电磁兼容性分析 | 第49页 |
| 4.4.6 起爆控制电路的电磁兼容验证试验情况 | 第49-52页 |
| 4.5 本章总结 | 第52-53页 |
| 第5章 电路性能测试 | 第53-58页 |
| 5.1 瞬发延迟时间测试 | 第53页 |
| 5.2 外部供电失效后的工作能力测试 | 第53-54页 |
| 5.3 瞬发模式点火脉冲波形测试 | 第54-55页 |
| 5.4 延时模式点火脉冲波形测试 | 第55-57页 |
| 5.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 总结与展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
