摘要 | 第4-7页 |
abstract | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第13-45页 |
1.1 微孔材料 | 第13-18页 |
1.1.1 多孔材料的分类 | 第13页 |
1.1.2 沸石分子筛 | 第13-16页 |
1.1.3 金属-有机骨架材料 | 第16-18页 |
1.2 电子显微学基础 | 第18-21页 |
1.2.1 电子显微学中常见名词解释 | 第18-20页 |
1.2.2 透射电子显微镜的发展历史 | 第20-21页 |
1.3 三维电子衍射断层重构 | 第21-30页 |
1.3.1 传统的晶体结构解析方法 | 第21-26页 |
1.3.2 电子衍射方法的进展 | 第26-30页 |
1.4 旋转电子衍射法 | 第30-35页 |
1.4.1 旋转电子衍射法的简单原理 | 第30-31页 |
1.4.2 RED程序 | 第31-35页 |
1.5 本论文选题的目的、意义和主要研究内容 | 第35-37页 |
1.5.1 本论文选题的目的、意义 | 第35-36页 |
1.5.2 本论文的主要研究内容 | 第36-37页 |
参考文献 | 第37-45页 |
第二章 传统透射电子显微分析技术在沸石分子筛结构研究中的应用 | 第45-77页 |
2.1 前言 | 第45页 |
2.2 BETA分子筛的透射电子显微分析 | 第45-60页 |
2.2.1 Beta分子筛 | 第45-47页 |
2.2.2 A相富集Beta分子筛的AB层错相共生缺陷研究 | 第47-54页 |
2.2.3 多级孔Beta分子筛的电子显微分析 | 第54-60页 |
2.3 多级孔ZSM-5 的电子显微分析 | 第60-68页 |
2.3.1 ZSM-5 分子筛 | 第60页 |
2.3.2 多级孔ZSM-5 分子筛的电子显微分析 | 第60-68页 |
2.4 本章小结 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-77页 |
第三章 RED在金属-有机骨架材料结构解析中的应用探索 | 第77-91页 |
3.1 前言 | 第77页 |
3.2 实验材料的准备与实验仪器 | 第77-78页 |
3.2.1 实验材料的准备 | 第77-78页 |
3.2.2 实验仪器 | 第78页 |
3.3 结果与讨论 | 第78-86页 |
3.3.1 粉末XRD表征 | 第78-79页 |
3.3.2 元素组成的确定 | 第79页 |
3.3.3 利用TEM表征Ui O-66的形貌 | 第79-80页 |
3.3.4 利用RED软件确定UiO-66样品的单胞 | 第80-81页 |
3.3.5 样品UiO-66的消光规律及空间群确定 | 第81-84页 |
3.3.6 利用SHELX软件解析UiO-66的骨架结构 | 第84-86页 |
3.4 本章小结 | 第86-88页 |
参考文献 | 第88-91页 |
第四章 利用RED方法研究MOFS材料JUC-32的端基氧 | 第91-101页 |
4.1 前言 | 第91-92页 |
4.2 实验材料的准备与实验仪器 | 第92-93页 |
4.2.1 实验材料的准备 | 第92页 |
4.2.2 实验仪器 | 第92页 |
4.2.3 实验条件 | 第92-93页 |
4.3 结果与讨论 | 第93-97页 |
4.3.1 元素组成的确定 | 第93页 |
4.3.2 单胞的确定 | 第93-95页 |
4.3.3 JUC-32的消光规律与空间群的确定 | 第95-96页 |
4.3.4 利用SHELX软件解析JUC-32的骨架结构 | 第96-97页 |
4.4 本章小结 | 第97-99页 |
参考文献 | 第99-101页 |
第五章 利用RED方法解析新型磷铝分子筛PST-6 的骨架结构 | 第101-117页 |
5.1 前言 | 第101页 |
5.2 实验材料的准备与实验仪器 | 第101-102页 |
5.2.1 实验材料的准备 | 第101-102页 |
5.2.2 实验仪器 | 第102页 |
5.3 结果与讨论 | 第102-115页 |
5.3.1 元素组成及含量的确定 | 第102-103页 |
5.3.2 利用RED方法确定单胞 | 第103-105页 |
5.3.3 利用金衍射环精修单胞参数 | 第105-108页 |
5.3.4 PST-6 分子筛的消光规律及空间群确定 | 第108-109页 |
5.3.5 利用SHELX软件解析PST-6 分子筛的骨架结构 | 第109-115页 |
5.4 本章小结 | 第115-116页 |
参考文献 | 第116-117页 |
第六章 结论与展望 | 第117-119页 |
附录 | 第119-131页 |
作者简介及科研成果 | 第131-133页 |
致谢 | 第133页 |