| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 国外的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内发展现状 | 第11-12页 |
| 1.3 本课题主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 二维线性离子阱质谱 | 第14-24页 |
| 2.1 质谱系统及其核心部分的简介 | 第14-15页 |
| 2.2 LIT 的原理和背景 | 第15-16页 |
| 2.3 LIT 的几何结构 | 第16-17页 |
| 2.3.1 轴向抛射的 LIT | 第16-17页 |
| 2.3.2 径向抛射的 LIT | 第17页 |
| 2.4 在 LIT 场内离子的运动 | 第17-19页 |
| 2.5 空间电荷效应 | 第19-20页 |
| 2.6 射入阱内离子的捕获效率 | 第20-21页 |
| 2.7 LIT 阱的 MS/MS 及分辨率 | 第21-22页 |
| 2.8 LIT 的性能指标 | 第22-23页 |
| 2.9 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 线性离子阱的 SIMION 建模及电压配置 | 第24-36页 |
| 3.1 SIMION 3D 7.0 | 第24-28页 |
| 3.1.1 SIMION 离子光学模拟软件简介 | 第24-25页 |
| 3.1.2 SIMION 应用程序 | 第25-27页 |
| 3.1.3 电极的建立 | 第27-28页 |
| 3.1.4 SIMION 软件的模拟原理 | 第28页 |
| 3.2 线性离子阱的 SIMION 建模及电压配置 | 第28-35页 |
| 3.2.1 模拟离子源 | 第28-29页 |
| 3.2.2 离子聚焦透镜 | 第29-30页 |
| 3.2.3 LIT 质量分析器 | 第30-35页 |
| 3.3 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 线性离子阱仿真及结果分析 | 第36-69页 |
| 4.1 线性离子阱及仿真平台 | 第36-38页 |
| 4.1.1 线性离子阱形状分析 | 第36-37页 |
| 4.1.2 模型假设 | 第37页 |
| 4.1.3 仿真平台简介 | 第37-38页 |
| 4.2 离子源的仿真过程及结果分析 | 第38-42页 |
| 4.2.1 随机离子程序定义 | 第39-40页 |
| 4.2.2 离子源仿真结果分析 | 第40-42页 |
| 4.3 离子聚焦透镜仿真及结果分析 | 第42-46页 |
| 4.3.1 离子聚焦透镜模拟操作 | 第43页 |
| 4.3.2 离子聚焦透镜仿真结果 | 第43-46页 |
| 4.4 LIT 质量分析器的模拟仿真及结果 | 第46-49页 |
| 4.4.1 三段式线型离子阱质量分析器的电势分布 | 第46页 |
| 4.4.2 LIT 几种经典的操作模式 | 第46-49页 |
| 4.5 单质核比的离子模拟仿真 | 第49-54页 |
| 4.5.1 单质核比离子操作时序 | 第49页 |
| 4.5.2 仿真条件 | 第49-50页 |
| 4.5.3 仿真过程及结果分析 | 第50-54页 |
| 4.6 不同质核比离子聚焦透镜的模拟仿真及结果 | 第54-67页 |
| 4.6.1 轴向扫出模式 | 第54-59页 |
| 4.6.2 径向扫出模式 | 第59-64页 |
| 4.6.3 离子选择积累技术的仿真 | 第64-67页 |
| 4.7 难点及创新点 | 第67-68页 |
| 4.8 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77页 |