| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| 1.1. 材料疲劳破坏形式与分类 | 第12页 |
| 1.2. 材料疲劳性能的表征：S-N曲线 | 第12-13页 |
| 1.3. 振动疲劳基本概念 | 第13页 |
| 1.4. TC4钛合金的特点及应用 | 第13-14页 |
| 1.5. 微束等离子弧焊接技术在TC4钛合金焊接中的应用 | 第14-16页 |
| 1.5.1. 微束等离子弧焊接技术 | 第14-15页 |
| 1.5.2. 钛合金焊接过程中的主要问题 | 第15-16页 |
| 1.6. 本课题研究意义 | 第16页 |
| 1.7. 本文研究内容 | 第16-17页 |
| 第二章 气动共振试验系统的应用与开发 | 第17-20页 |
| 2.1. 气动共振试验系统的组成及工作原理 | 第17-18页 |
| 2.2. 气动共振试验系统的应用 | 第18页 |
| 2.2.1. 数据采集功能 | 第18页 |
| 2.2.2. 数值校对与状态跟踪功能 | 第18页 |
| 2.3. 本章小结 | 第18-20页 |
| 第三章 TC4钛合金共振疲劳性能研究 | 第20-28页 |
| 3.1. 材料的化学成分和力学性能 | 第20页 |
| 3.2. 共振疲劳试样 | 第20-21页 |
| 3.3. 振幅-寿命关系 | 第21-22页 |
| 3.4. 振幅-应力关系 | 第22-25页 |
| 3.4.1. 静态拉伸替代 | 第22-24页 |
| 3.4.2. 替代效果验证 | 第24页 |
| 3.4.3. 有限元应力分布仿真及数值修正 | 第24-25页 |
| 3.5. TC4钛合金共振疲劳S-N曲线 | 第25-26页 |
| 3.6. TC4钛合金共振疲劳裂纹扩展曲线 | 第26-27页 |
| 3.7. TC4钛合金板材与叶片共振疲劳性能对比 | 第27页 |
| 3.8. 本章小结 | 第27-28页 |
| 第四章 TC4钛合金共振疲劳断口形貌分析 | 第28-39页 |
| 4.1. 低周疲劳断口形貌分析 | 第29-31页 |
| 4.1.1. 低周形貌低倍分析 | 第29-30页 |
| 4.1.2. 低周形貌高倍分析 | 第30-31页 |
| 4.2. 高周疲劳断口形貌分析 | 第31-33页 |
| 4.2.1. 高周形貌低倍分析 | 第31页 |
| 4.2.2. 高周形貌高倍分析 | 第31-33页 |
| 4.3. 超高周疲劳断口形貌分析 | 第33-35页 |
| 4.3.1. 超高周形貌低倍分析 | 第33-34页 |
| 4.3.2. 超高周形貌高倍分析 | 第34-35页 |
| 4.4. 裂纹扩展速率试样断口形貌分析 | 第35-37页 |
| 4.5. TC4钛合金共振疲劳裂纹源个数与寿命周次的关系 | 第37页 |
| 4.6. TC4钛合金共振疲劳裂纹扩展速率与应力的关系 | 第37-38页 |
| 4.7. 本章小结 | 第38-39页 |
| 第五章 微束等离子弧焊接接头共振疲劳性能研究 | 第39-48页 |
| 5.1. TC4钛合金微束等离子弧焊接接头试样 | 第39-44页 |
| 5.1.1. 单道堆焊试样制备 | 第39-41页 |
| 5.1.2. 焊接接头显微组织观察 | 第41-43页 |
| 5.1.3. 焊接接头显微硬度 | 第43页 |
| 5.1.4. 焊接接头力学性能研究 | 第43-44页 |
| 5.2. 焊接接头疲劳寿命 | 第44-47页 |
| 5.2.1. 疲劳裂纹位置 | 第44-46页 |
| 5.2.2. 热影响区细晶区疲劳寿命 | 第46-47页 |
| 5.2.3. 焊缝疲劳寿命 | 第47页 |
| 5.3. 本章小结 | 第47-48页 |
| 第六章 TC4钛合金焊接接头共振疲劳断口形貌分析 | 第48-56页 |
| 6.1. 热影响区细晶区断口形貌分析 | 第48-50页 |
| 6.1.1. 热影响区细晶区形貌低倍分析 | 第48-49页 |
| 6.1.2. 热影响区细晶区形貌高倍分析 | 第49-50页 |
| 6.2. 焊缝断口形貌分析 | 第50-51页 |
| 6.2.1. 焊缝形貌低倍分析 | 第50页 |
| 6.2.2. 焊缝形貌高倍分析 | 第50-51页 |
| 6.3. 表面凹陷对焊缝疲劳性能的影响 | 第51-52页 |
| 6.4. 焊接链状气孔对焊缝疲劳性能的影响 | 第52-54页 |
| 6.5. 两种缺陷引起焊缝寿命的下降 | 第54-55页 |
| 6.6. 本章小结 | 第55-56页 |
| 第七章 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
