| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-19页 |
| 1.3.1 加拿大国家研究委员会 | 第13-17页 |
| 1.3.2 日本国家计量院 | 第17-18页 |
| 1.3.3 其他研究 | 第18-19页 |
| 1.4 主要研究内容和技术路线 | 第19-22页 |
| 第二章 实验系统和研究方法 | 第22-28页 |
| 2.1 铂电阻温度计充气系统 | 第22页 |
| 2.2 铂电阻温度电阻测量系统 | 第22-23页 |
| 2.3 热流测量法 | 第23-25页 |
| 2.4 样品元素检测 | 第25-28页 |
| 2.4.1 样品元素种类的确定 | 第25-26页 |
| 2.4.2 铂的氧化物组成确定 | 第26-28页 |
| 第三章 PtO_2的分解实验 | 第28-38页 |
| 3.1 单质铂的主要氧化过程 | 第28页 |
| 3.2 PtO_2粉末的实验过程 | 第28-36页 |
| 3.2.1 Pt、Pt O、Pt O_2的电子能谱分析 | 第29-30页 |
| 3.2.2 DSC热流曲线 | 第30-31页 |
| 3.2.3 PtO_2中H_2O的存在 | 第31-32页 |
| 3.2.4 PtO_2的分解温度 | 第32-35页 |
| 3.2.5 PtO的分解温度 | 第35-36页 |
| 3.3 本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 铂片的氧化实验 | 第38-52页 |
| 4.1 铂片表面污染物评估 | 第38-40页 |
| 4.2 表面初始氧化层的去除 | 第40-45页 |
| 4.2.1 铂片表面氧化层分解原理 | 第41-42页 |
| 4.2.2 实验过程与结果分析 | 第42-45页 |
| 4.3 铂片的氧化实验 | 第45-50页 |
| 4.3.1 高温氧化原理 | 第45-46页 |
| 4.3.2 实验过程及结果分析 | 第46-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 铂电阻温度计的氧化实验 | 第52-62页 |
| 5.1 SPRT的退火实验 | 第52-54页 |
| 5.2 氧化层厚度评估及其SPRT的影响 | 第54-60页 |
| 5.2.1 氧化模型的建立 | 第54-56页 |
| 5.2.2 氧化层对电阻的影响 | 第56-60页 |
| 5.3 本章小结 | 第60-62页 |
| 第六章 晶粒尺寸对铂丝电阻率的影响 | 第62-66页 |
| 6.1 用于晶粒观测的样片制备和电阻测量法 | 第62-63页 |
| 6.1.1 晶粒样片制备 | 第62页 |
| 6.1.2 电阻的测量 | 第62-63页 |
| 6.2 粒径分布与电阻关系 | 第63-65页 |
| 6.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 第七章 结论和展望 | 第66-68页 |
| 7.1 研究结论 | 第66-67页 |
| 7.2 工作展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第76页 |