| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 序言 | 第8-11页 |
| 1 引言 | 第11-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 测试算法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 测试方法 | 第13-14页 |
| 1.3 论文研究内容及结构 | 第14页 |
| 1.4 本章小结 | 第14-17页 |
| 2 存储器测试算法理论研究 | 第17-25页 |
| 2.1 SRAM的存储器模型 | 第17-19页 |
| 2.1.1 SRAM功能模型 | 第17-18页 |
| 2.1.2 SRAM基本存储单元 | 第18-19页 |
| 2.2 存储器故障电路模型 | 第19-21页 |
| 2.3 存储器测试算法分析 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-25页 |
| 3 算法March FM设计 | 第25-41页 |
| 3.1 测试算法设计原理和故障原语 | 第25-27页 |
| 3.1.1 测试算法设计原理 | 第25-26页 |
| 3.1.2 故障原语 | 第26-27页 |
| 3.2 故障敏化操作设计 | 第27-35页 |
| 3.2.1 固定故障(SAF)敏化操作设计 | 第27-28页 |
| 3.2.2 转换故障(TF)敏化操作设计 | 第28-29页 |
| 3.2.3 耦合故障(CF)敏化操作设计 | 第29-32页 |
| 3.2.4 干扰故障(DF)敏化操作设计 | 第32-35页 |
| 3.2.5 固定开路故障(SOF)和地址故障(AF)敏化操作设计 | 第35页 |
| 3.3 算法March FM | 第35-39页 |
| 3.3.1 算法测试元素整合优化 | 第36-38页 |
| 3.3.2 算法分析 | 第38-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-41页 |
| 4 测试算法验证模拟系统设计 | 第41-49页 |
| 4.1 验证模拟系统设计 | 第41-44页 |
| 4.1.1 故障描述符定义 | 第42页 |
| 4.1.2 仿真引擎 | 第42-44页 |
| 4.2 故障仿真模拟 | 第44-48页 |
| 4.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 5 测试算法的应用实现—MBIST电路设计及仿真验证 | 第49-69页 |
| 5.1 芯片级电路设计方法 | 第49-50页 |
| 5.2 各个子模块电路设计及仿真 | 第50-58页 |
| 5.2.1 MBIST控制器 | 第50-52页 |
| 5.2.2 地址产生器 | 第52-54页 |
| 5.2.3 数据产生器 | 第54-56页 |
| 5.2.4 比较器 | 第56-57页 |
| 5.2.5 MBIST控制器、地址产生器和数据产生器之间的数据联系 | 第57-58页 |
| 5.2.6 MBIST电路整体结构 | 第58页 |
| 5.3 MBIST整体电路的行为仿真 | 第58-61页 |
| 5.4 MBIST测试电路芯片级设计 | 第61-68页 |
| 5.4.1 MBIST电路前端设计 | 第61-65页 |
| 5.4.2 MBIST电路后端设计 | 第65-68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 6 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 作者简历及攻读硕士/博士学位期间取得的研究成果 | 第75-79页 |
| 学位论文数据集 | 第79页 |
