直流偏置下正弦激励铁芯材料损耗计算及研究
| 致谢 | 第4-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 1. 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1. 引言 | 第10-11页 |
| 1.2. 相关原理介绍 | 第11-16页 |
| 1.2.1. 铁磁材料介绍 | 第11-12页 |
| 1.2.2. 铁磁材料中损耗形成机理 | 第12-13页 |
| 1.2.3. 铁磁材料磁化过程 | 第13-15页 |
| 1.2.4. 损耗分类与介绍 | 第15-16页 |
| 1.3. 国内外发展现状介绍 | 第16-21页 |
| 1.4. 本文主要工作 | 第21-22页 |
| 2. 实验测试平台搭建 | 第22-31页 |
| 2.1. 测试平台搭建 | 第22-26页 |
| 2.2. 数据测量与平台误差 | 第26-30页 |
| 2.3. 本章小结 | 第30-31页 |
| 3. 直流偏置磁场测量 | 第31-44页 |
| 3.1. 实验测量方法介绍 | 第31-33页 |
| 3.2. 退磁方式的选择 | 第33-35页 |
| 3.3. 实验平台测试改进 | 第35-39页 |
| 3.4. 直流偏置磁场位置确定 | 第39-43页 |
| 3.5. 本章小结 | 第43-44页 |
| 4. 直偏磁场情况下磁滞回线预测 | 第44-56页 |
| 4.1. 无直偏磁场下磁滞回线预测 | 第44-46页 |
| 4.2. 直偏磁场下磁滞回线预测 | 第46-52页 |
| 4.3. 直流偏置激励下损耗变化情况 | 第52-55页 |
| 4.4. 本章小结 | 第55-56页 |
| 5. 实验数据库应用与验证 | 第56-68页 |
| 5.1. 气隙样品线圈 | 第56-58页 |
| 5.2. 气隙线圈的有限元仿真设置 | 第58-60页 |
| 5.3. 气隙线圈的有限元仿真结果 | 第60-64页 |
| 5.4. 气隙线圈损耗计算与验证 | 第64-67页 |
| 5.5. 本章小结 | 第67-68页 |
| 6. 结论与展望 | 第68-70页 |
| 6.1. 结论 | 第68页 |
| 6.2. 研究展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 作者简历 | 第76页 |
