壳聚糖及其衍生物对放射性核素铀和钍吸附性能的研究
前言 | 第1-5页 |
中文摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-14页 |
第1章 绪论 | 第14-29页 |
·放射性污染主要来源 | 第14-15页 |
·原子能工业排放的废物 | 第14页 |
·核武器试验的沉降物 | 第14-15页 |
·医疗放射性 | 第15页 |
·科研放射性 | 第15页 |
·放射性废水的主要危害 | 第15页 |
·放射性废水的主要处理方法及特点 | 第15-18页 |
·化学沉淀法 | 第15-16页 |
·蒸发浓缩法 | 第16页 |
·离子交换法 | 第16-17页 |
·吸附法 | 第17页 |
·离子浮选法 | 第17页 |
·膜处理法 | 第17-18页 |
·壳聚糖的特性 | 第18-24页 |
·壳聚糖的结构 | 第18-19页 |
·壳聚糖的物理性质 | 第19页 |
·壳聚糖的化学改性研究状况 | 第19-20页 |
·壳聚糖对金属离子的吸附机理 | 第20-21页 |
·影响壳聚糖吸附金属离子的主要因素 | 第21-22页 |
·壳聚糖吸附金属离子的研究进展 | 第22-24页 |
·磁性高分子微球 | 第24-25页 |
·磁性高分子微球纳米Fe_3O_4的制备 | 第24-25页 |
·论文选题的意义及研究展望 | 第25-29页 |
第2章 过渡金属离子与配体之间的配位关系 | 第29-38页 |
·材料 | 第29-30页 |
·主要试剂 | 第29页 |
·主要仪器 | 第29-30页 |
·实验方法 | 第30-31页 |
·不同浓度金属离子的吸光度和吸收波长测定 | 第30页 |
·铜离子与EDTA及柠檬酸的配位关系测定 | 第30页 |
·铜离子与氨基葡萄糖及壳聚糖的配位关系测定 | 第30页 |
·铜离子与氨基酸的配位关系测定 | 第30页 |
·铜离子与PEO,CMC,CTS的配位关系 | 第30-31页 |
·结果与讨论 | 第31-37页 |
·几种常见配体的结构式 | 第31-32页 |
·离子与配体的配位规律 | 第32页 |
·过渡金属离子的可见光谱分析 | 第32-34页 |
·几种配合物的可见光谱分析 | 第34-37页 |
·结论 | 第37-38页 |
第3章 壳聚糖对铀吸附性能的研究 | 第38-43页 |
·材料 | 第38页 |
·主要试剂 | 第38页 |
·主要仪器 | 第38页 |
·实验方法 | 第38-39页 |
·铀标准曲线的测定 | 第38-39页 |
·放射性核素铀与显色剂络合关系 | 第39页 |
·壳聚糖对放射性核素铀吸附性能 | 第39页 |
·铜离子对壳聚糖吸附放射性核素铀的影响 | 第39页 |
·结果与讨论 | 第39-42页 |
·壳聚糖对铀的分析方法 | 第39-40页 |
·铀离子的标准曲线 | 第40-41页 |
·吸附量与吸附率的关系 | 第41-42页 |
·铜离子对吸附性能的影响 | 第42页 |
·结论 | 第42-43页 |
第4章 壳聚糖对钍吸附性能的研究 | 第43-47页 |
·材料 | 第43页 |
·主要试剂 | 第43页 |
·主要仪器 | 第43页 |
·实验方法 | 第43-44页 |
·钍标准曲线的测定 | 第43页 |
·放射性核素钍与显色剂络合关系 | 第43-44页 |
·壳聚糖对放射性核素钍的吸附 | 第44页 |
·结果与讨论 | 第44-46页 |
·放射性核素钍的分析方法 | 第44-45页 |
·钍标准曲线的测定 | 第45页 |
·壳聚糖对放射性核素钍的吸附 | 第45-46页 |
·结论 | 第46-47页 |
第5章 磁性固体吸附材料的制备及吸附性能的研究 | 第47-60页 |
·材料 | 第47-48页 |
·主要试剂 | 第47-48页 |
·主要仪器 | 第48页 |
·实验方法 | 第48-50页 |
·壳聚糖理化表征 | 第48-49页 |
·固体纳米Fe_3O_4的制备 | 第49页 |
·SiO_2包覆Fe_3O_4的制备 | 第49页 |
·壳聚糖包覆Fe_3O_4的制备 | 第49页 |
·磁核固体吸附材料的理化表征 | 第49-50页 |
·结果与讨论 | 第50-59页 |
·壳聚糖的理化表征 | 第50-53页 |
·磁性固体吸附材料XRD测定 | 第53-54页 |
·磁性壳聚糖吸附剂的红外光谱分析 | 第54-55页 |
·磁性壳聚糖吸附剂扫描电镜观测分析 | 第55-56页 |
·固化交联吸附材料的研究 | 第56-59页 |
·结论 | 第59-60页 |
第6章 全文结论 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-65页 |
攻读学位期间发表的学术论文及参与的科研工作 | 第65-66页 |
导师及作者简介 | 第66-67页 |
致谢 | 第67页 |