| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·粒度测试在生产和科研中的意义 | 第8页 |
| ·激光粒度仪概述 | 第8-9页 |
| ·激光粒度仪的发展历史与现状 | 第9-10页 |
| ·散射光能分布数据的计算与测量的重要性及目前存在的问题 | 第10-11页 |
| ·本文的研究目的和主要工作 | 第11-13页 |
| 第二章 Mie 散射理论与散射光强的数值计算 | 第13-23页 |
| ·Mie 散射理论及数值算法 | 第13-18页 |
| ·算法的准确性验证 | 第18-20页 |
| ·计算实例 | 第20-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 散射光能分布(光能矩阵)的计算 | 第23-40页 |
| ·散射光能矩阵 | 第23页 |
| ·正入射光路散射光能分布的计算 | 第23-33页 |
| ·正入射光路概述 | 第23-26页 |
| ·环形探测器理论光能的计算 | 第26-27页 |
| ·大角矩形探测器理论光能的计算与验证 | 第27-33页 |
| ·两种积分方法的数值比较 | 第33页 |
| ·斜入射光路散射光能分布的计算 | 第33-38页 |
| ·斜入射光路概述——光路、优点及特征 | 第33-34页 |
| ·小角探测器接收面的几何形状与光能的数值计算 | 第34-36页 |
| ·大角矩形探测器散射光能的数值计算 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 影响光能数据准确性的其他因素分析 | 第40-47页 |
| ·复散射的影响 | 第40页 |
| ·颗粒空间位置的影响 | 第40-43页 |
| ·高斯光束的影响 | 第43-44页 |
| ·经过两次折射后散射光光强的变化 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 散射光能矩阵的精确性对现有仪器性能的改善 | 第47-60页 |
| ·对标准颗粒测量的改善 | 第47-49页 |
| ·对吸收性质的样品的测量改善 | 第49-51页 |
| ·散射光能分布反常现象的发现与解决方案 | 第51-59页 |
| ·散射光能分布反常现象的描述及分析 | 第52-57页 |
| ·降低反常现象对粒度分析影响的初步方法 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 光能分布探测方法的改进与效果验证 | 第60-74页 |
| ·背景信号对粒度测量的影响 | 第60-67页 |
| ·背景对单分散颗粒的影响的理论模拟 | 第61页 |
| ·背景对混合颗粒的影响的理论模拟 | 第61-64页 |
| ·背景对实际测量的影响实验 | 第64-66页 |
| ·用遮光比修正的背景去除法及实验 | 第66-67页 |
| ·斜入射光路实验 | 第67-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第七章 工作总结与展望 | 第74-76页 |
| ·工作总结 | 第74页 |
| ·后续工作展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |