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基于MEMS开关的有源可重构频率选择表面的研究与设计

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-9页
1 绪论第9-15页
   ·课题背景及意义第9-11页
   ·国内外研究进展第11-13页
   ·本文内容安排第13-15页
2 频率选择表面的基本理论第15-30页
   ·频率选择表面的基本概念第15页
   ·频率选择表面的分类及特点第15-23页
     ·按传输特性分类第15-17页
     ·按工作机制分类第17-23页
   ·频率选择表面的特性参数第23-27页
     ·单元形状对FSS传输特性的影响第23-25页
     ·单元大小对FSS传输特性的影响第25页
     ·单元排列和单元间距对FSS传输特性的影响第25-26页
     ·介质加载对FSS传输特性的影响第26-27页
     ·电磁波入射角度和极化方式对FSS传输特性的影响第27页
   ·栅瓣第27-29页
   ·本章小结第29-30页
3 MEMS开关的分析与设计第30-43页
   ·RF MEMS开关简介第30-31页
   ·RF MEMS开关的特点第31-32页
   ·RF MEMS开关工作原理第32-37页
     ·金属接触型MEMS开关第33-34页
     ·电容耦合型MEMS开关第34-37页
   ·RF MEMS开关的制作工艺第37-39页
     ·RF MEMS制作工艺第37页
     ·金属接触型MEMS开关的制作工艺第37-38页
     ·电容耦合型MEMS开关的制作工艺第38-39页
   ·用于频率选择表面的MEMS开关的仿真设计第39-42页
     ·悬臂梁式MEMS开关的等效电路第40-41页
     ·MEMS开关的建模与仿真第41-42页
   ·本章小结第42-43页
4 带阻跳变式有源可重构频率选择表面第43-59页
   ·带阻跳变式有源可重构FSS方案介绍第43-44页
   ·8-12GHz宽带频率选择表面的设计第44-51页
     ·宽带频率选择表面单元结构第45-46页
     ·单元尺寸与间距对谐振特性的影响第46-49页
     ·加载介质对谐振特性的影响第49-50页
     ·入射角度与极化方式对谐振特性的影响第50-51页
   ·X波段带阻频率选择表面的设计第51-56页
     ·带阻频率选择表面单元结构第51-53页
     ·单元尺寸与间距对谐振特性的影响第53-55页
     ·加载介质对谐振特性的影响第55-56页
     ·入射角度与极化方式对谐振特性的影响第56页
   ·可重构带阻式频率选择表面的设计第56-58页
     ·加载MEMS开关的带通FSS单元结构第57-58页
     ·开关的位置对谐振特性的影响第58页
   ·本章小结第58-59页
5 带通跳变式有源可重构频率选择表面第59-71页
   ·带通跳变式有源可重构FSS方案介绍第59页
   ·X波段带通频率选择表面的设计第59-66页
     ·带通频率选择表面单元结构第59-62页
     ·单元尺寸与间距对谐振特性的影响第62-64页
     ·加载介质对谐振特性的影响第64-66页
     ·入射角度与极化方式对谐振特性的影响第66页
   ·可重构带通频率选择表面的设计第66-70页
     ·加载MEMS开关的带通FSS单元结构第67-68页
     ·开关的位置对谐振特性的影响第68-70页
   ·本章小结第70-71页
6 方案的选择与实物的加工测试第71-81页
   ·项目方案选择第71-72页
   ·实物加工与测试第72-80页
   ·本章小结第80-81页
7 总结与展望第81-82页
致谢第82-83页
参考文献第83-86页
附录第86页

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