| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-15页 |
| ·选题背景及意义 | 第8-11页 |
| ·解卷积成像方法的研究现状 | 第11-13页 |
| ·本论文研究内容 | 第13-15页 |
| ·主要内容和目的 | 第13页 |
| ·各章内容简介 | 第13-15页 |
| 第2章 显微镜的点扩散函数及成像模型 | 第15-25页 |
| ·显微镜点扩散函数 | 第15-21页 |
| ·显微镜点扩散函数的估计 | 第15-19页 |
| ·显微镜点扩散函数的测量 | 第19-21页 |
| ·显微镜的成像模型 | 第21-25页 |
| ·物理模型 | 第22-23页 |
| ·统计模型 | 第23-25页 |
| 第3章 解卷积成像方法研究 | 第25-49页 |
| ·直接逆滤波方法 | 第25-30页 |
| ·逆滤波方法原理 | 第25-26页 |
| ·逆滤波方法成像结果 | 第26-30页 |
| ·维纳滤波方法 | 第30-33页 |
| ·维纳滤波方法原理 | 第30-31页 |
| ·维纳滤波方法成像结果 | 第31-33页 |
| ·平滑约束的最小二乘方滤波方法 | 第33-37页 |
| ·平滑约束的最小二乘方滤波方法原理 | 第33-34页 |
| ·平滑约束的最小二乘方滤波方法成像结果 | 第34-37页 |
| ·Van-Cittert 解卷积方法 | 第37-41页 |
| ·Van-Cittert 解卷积方法原理 | 第37-38页 |
| ·Van-Cittert 解卷积方法成像结果 | 第38-41页 |
| ·Richardson-Lucy 解卷积方法 | 第41-49页 |
| ·Richardson-Lucy 解卷积方法原理 | 第41-45页 |
| ·Richardson-Lucy 解卷积方法成像结果 | 第45-49页 |
| 第4章 解卷积成像方法评估方法研究 | 第49-58页 |
| ·均方差和信噪比 | 第49-53页 |
| ·均方差 | 第49-51页 |
| ·信噪比 | 第51-53页 |
| ·背景噪声平均值 | 第53页 |
| ·结构相似性 | 第53-58页 |
| 第5章 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·研究总结 | 第58页 |
| ·需进一步开展的工作 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第66页 |