摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-28页 |
·前言 | 第9-10页 |
·RRAM 的特点 | 第10-12页 |
·RRAM 的研究现状 | 第12-20页 |
·体效应模型 | 第15-17页 |
·界面效应模型 | 第17-19页 |
·导电畴隧穿模型 | 第19-20页 |
·RRAM 研究的不足之处 | 第20-21页 |
·本论文的意义和内容 | 第21-22页 |
参考文献 | 第22-28页 |
第二章 Au/Pr_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3/Pt 三明治结构的电阻开关特性 | 第28-41页 |
·前言 | 第28-29页 |
·实验过程 | 第29-31页 |
·PSMO 靶材的制备 | 第29页 |
·PSMO 薄膜及三明治结构的制备 | 第29-30页 |
·PSMO 薄膜样品的表征 | 第30-31页 |
·结果与讨论 | 第31-37页 |
·PSMO 薄膜的XRD 和拉曼分析 | 第31-32页 |
·PSMO 薄膜的SEM、AFM 分析 | 第32-34页 |
·PSMO 薄膜的电阻开关特性分析 | 第34-37页 |
·保持性测试 | 第37-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
参考文献 | 第39-41页 |
第三章 非晶Pr_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3薄膜的电阻开关性质 | 第41-51页 |
·前言 | 第41页 |
·实验过程 | 第41-42页 |
·PSMO 薄膜的制备 | 第41-42页 |
·PSMO 薄膜的表征 | 第42页 |
·结果与讨论 | 第42-48页 |
·PSMO 薄膜的XRD 分析 | 第42-43页 |
·PSMO 薄膜的SEM 和AFM 分析 | 第43-44页 |
·PSMO 薄膜的XPS | 第44页 |
·PSMO 薄膜的电阻开关特性分析 | 第44-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-51页 |
第四章 结论与展望 | 第51-53页 |
攻读硕士期间完成的论文 | 第53-54页 |
致谢 | 第54-55页 |