| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·研究动机 | 第7-8页 |
| ·本论文内容及结构 | 第8-9页 |
| 第二章 D/A 转换器简介 | 第9-19页 |
| ·D/A 转换器的基本工作原理 | 第9-11页 |
| ·D/A 转换器的性能参数 | 第11-16页 |
| ·静态特性参数 | 第11-14页 |
| ·动态特性参数 | 第14-16页 |
| ·D/A 转换器主要性能参数测试原理 | 第16-18页 |
| ·静态特性参数测试原理 | 第16-17页 |
| ·动态特性参数测试原理 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 FPGA 基本理论 | 第19-33页 |
| ·FPGA 的基本结构 | 第19-22页 |
| ·基本可编程逻辑单元 | 第20-21页 |
| ·嵌入式存储阵列 | 第21页 |
| ·嵌入式功能模块 | 第21-22页 |
| ·FPGA 的时钟网络 | 第22-27页 |
| ·Stratix III 的时钟网络 | 第23-25页 |
| ·Stratix III 的锁相环资源 | 第25-27页 |
| ·FPGA 的输入/输出接口 | 第27-29页 |
| ·I/O 接口的基本结构 | 第28页 |
| ·I/O 接口的电平标准 | 第28-29页 |
| ·FPGA 开发与配置 | 第29-32页 |
| ·设计文件输入 | 第29-30页 |
| ·FPGA 调试 | 第30页 |
| ·FPGA 配置方式 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 D/A 转换器测试系统设计 | 第33-61页 |
| ·测试系统的基本结构 | 第33-39页 |
| ·FPGA 测试平台基板 | 第34-37页 |
| ·D/A 转换器测试平台子板 | 第37-38页 |
| ·测试系统的数据流程 | 第38-39页 |
| ·测试平台基板电路原理图及 PCB 设计 | 第39-51页 |
| ·电源电路设计 | 第40-48页 |
| ·时钟电路设计 | 第48页 |
| ·FPGA 配置电路设计 | 第48-50页 |
| ·其他部分 | 第50页 |
| ·PCB 设计 | 第50-51页 |
| ·测试平台子板电路原理图及 PCB 设计 | 第51-53页 |
| ·电路原理图设计 | 第51-53页 |
| ·PCB 设计 | 第53页 |
| ·测试系统软件设计 | 第53-59页 |
| ·时钟芯片配置 | 第54-56页 |
| ·静态特性参数测试配置 | 第56-57页 |
| ·动态特性参数测试配置 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 高速数模转换器测试 | 第61-73页 |
| ·静态特性参数测试 | 第61-66页 |
| ·失调误差和增益误差的测量 | 第62-63页 |
| ·DNL 和 INL 的测量 | 第63-66页 |
| ·动态特性参数测试 | 第66-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 研究成果 | 第79-81页 |
| 附录 A Stratix III FPGA 芯片中 I/O 单元支持的电平标准 | 第81-83页 |
| 附录 B Stratix III FPGA 芯片工作条件 | 第83-84页 |