| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第一章 扫描隧道显微镜及其应用 | 第11-39页 |
| ·扫描隧道显微镜的发明与发展 | 第11-13页 |
| ·扫描隧道显微学基本理论 | 第13-18页 |
| ·一维隧穿模型 | 第13-15页 |
| ·修改的Bardeen微扰方法 | 第15-17页 |
| ·Tersoff-Hamann近似 | 第17-18页 |
| ·扫描隧道显微镜的工作原理及仪器介绍 | 第18-25页 |
| ·扫描隧道显微镜的工作原理 | 第18-19页 |
| ·扫描隧道显微镜的工作模式 | 第19-21页 |
| ·UHV-LT-STM系统 | 第21-25页 |
| ·扫描隧道显微镜的应用 | 第25-35页 |
| ·本论文的研究工作 | 第35-36页 |
| 参考文献 | 第36-39页 |
| 第二章 双势垒隧道结中并联金属纳米颗粒的扫描隧道显微术研究 | 第39-61页 |
| ·背景介绍 | 第39-45页 |
| ·单电子隧穿现象 | 第39-40页 |
| ·双势垒隧道结中的库伦阻塞和库伦台阶 | 第40-44页 |
| ·纳米颗粒的扫描隧道显微术研究 | 第44-45页 |
| ·实验方法、结果和讨论 | 第45-58页 |
| ·实验方法 | 第45页 |
| ·两个并联的Au纳米颗粒 | 第45-53页 |
| ·二维Au纳米颗粒体系 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 第三章 Si(111)-(?)3×(?)3-Ag表面在低温下的电子输运性质 | 第61-81页 |
| ·背景介绍 | 第61-68页 |
| ·Si(111)-(?)3×(?)3-Ag表面简介 | 第61-65页 |
| ·空间电荷层中的能带弯曲 | 第65-68页 |
| ·实验过程、结果和讨论 | 第68-77页 |
| ·实验过程 | 第68-69页 |
| ·实验结果 | 第69-73页 |
| ·对实验现象的解释 | 第73-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 第四章 Si(111)-(?)3×(?)3-Ag表面CoPc分子的负微分电阻效应 | 第81-105页 |
| ·背景介绍 | 第81-89页 |
| ·Si表面的单分子电子器件 | 第81-82页 |
| ·单分子的输运性质研究 | 第82-84页 |
| ·负微分电阻效应 | 第84-88页 |
| ·CoPc分子简介 | 第88-89页 |
| ·实验过程、结果和讨论 | 第89-99页 |
| ·实验过程 | 第89页 |
| ·实验结果和讨论 | 第89-99页 |
| ·本章小结 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-105页 |
| 第五章 Si(111)-(?)3×(?)3-Ag表面Dy@C_(82)分子的负微分电阻效应及操纵 | 第105-124页 |
| ·背景介绍 | 第105-112页 |
| ·富勒烯简介 | 第105-106页 |
| ·内嵌金属富勒烯 | 第106-109页 |
| ·富勒烯分子的扫描隧道显微术研究 | 第109-112页 |
| ·实验方法,结果和讨论 | 第112-121页 |
| ·实验方法 | 第112-113页 |
| ·实验结果和讨论 | 第113-121页 |
| ·本章小结 | 第121-122页 |
| 参考文献 | 第122-124页 |
| 发表和待发表论文目录 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125页 |
