| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 1 绪论 | 第12-33页 |
| ·低温等离子体 | 第12-16页 |
| ·低温等离子体简介 | 第12-13页 |
| ·介质阻挡放电 | 第13-16页 |
| ·低温等离子体中活性物种的诊断方式 | 第16-25页 |
| ·质谱法 | 第16-17页 |
| ·光谱法 | 第17-25页 |
| ·光腔衰荡光谱技术 | 第25-28页 |
| ·本论文的选题和研究思路 | 第28-29页 |
| 参考文献 | 第29-33页 |
| 2 光腔模式与光腔衰荡光谱 | 第33-48页 |
| ·光学谐振腔 | 第33-34页 |
| ·模式理论 | 第34-46页 |
| ·谐振条件 | 第34-35页 |
| ·纵模 | 第35-38页 |
| ·横模 | 第38页 |
| ·谐振频率 | 第38-40页 |
| ·模式拍频 | 第40-41页 |
| ·模式理论在光腔衰荡光谱技术中的应用 | 第41-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 3 连续波光腔衰荡光谱实验装置的建立 | 第48-67页 |
| ·激光源的选择 | 第49-51页 |
| ·光隔离器的选择 | 第51-52页 |
| ·声光调制器的选择 | 第52-53页 |
| ·光学腔 | 第53-55页 |
| ·探测器 | 第55页 |
| ·触发电路的设计 | 第55-59页 |
| ·数据采集与处理程序设计 | 第59-64页 |
| ·等离子体产生装置 | 第64-65页 |
| ·试剂与进样系统 | 第65页 |
| ·其他辅助设备 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 4 连续波光腔衰荡光谱法对DBD等离子体中HO_2自由基的原位定量诊断研究 | 第67-87页 |
| ·前言 | 第67-69页 |
| ·HO_2的近红外光谱 | 第69-70页 |
| ·HO_2红外吸收谱线线强度及定量测量研究 | 第70-75页 |
| ·HO_2在1.5μm附近的线强度 | 第70-73页 |
| ·HO_2的定量测量 | 第73-75页 |
| ·HO_2数密度在半个放电周期中随时间的变化规律研究 | 第75-78页 |
| ·HO_2数密度随放电参数及气体组成的变化规律 | 第78-83页 |
| ·HO_2数密度随放电气体中氧气含量的变化 | 第79页 |
| ·HO_2数密度随放电气体中水含量的变化 | 第79-82页 |
| ·HO_2数密度随放电电压的变化 | 第82-83页 |
| ·HO_2数密度随气压的变化 | 第83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 5 连续波光腔衰荡光谱法对DBD等离子体中OH自由基的原位定量诊断研究 | 第87-113页 |
| ·前言 | 第87-88页 |
| ·OH自由基的近红外光谱 | 第88-92页 |
| ·OH的定量测定 | 第92-96页 |
| ·吸收谱线的线强度及配分函数 | 第92-93页 |
| ·光谱线的宽度与线形 | 第93-95页 |
| ·OH的定量测定 | 第95-96页 |
| ·OH数密度在半个放电周期中随时间的变化规律研究 | 第96-100页 |
| ·OH转动温度的测定 | 第100-103页 |
| ·OH数密度随放电电压及气体组成的变化 | 第103-109页 |
| ·OH数密度随放电电压的变化 | 第104-106页 |
| ·OH数密度随体系中N_2含量的变化 | 第106-107页 |
| ·OH数密度随体系中O_2含量的变化 | 第107-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 参考文献 | 第110-113页 |
| 6 结论与展望 | 第113-115页 |
| ·本研究工作所取得的主要成果 | 第113-114页 |
| ·展望:有待继续深入研究的问题 | 第114-115页 |
| 附录A 光腔衰荡光谱主要文献总结 | 第115-161页 |
| 附录A 参考文献 | 第131-161页 |
| 附录B 光腔衰荡光谱实验数据处理程序 | 第161-163页 |
| 攻读博士学位期间发表学术论文情况 | 第163-165页 |
| 创新点摘要 | 第165-166页 |
| 致谢 | 第166-167页 |
