| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 引论 | 第11-24页 |
| 1.概述 | 第11-12页 |
| ·~(151)Sm测量的意义 | 第11页 |
| ·~(151)Sm测量的国内国际现状 | 第11-12页 |
| 2.AMS系统 | 第12-17页 |
| ·普通质谱 | 第12-13页 |
| ·加速器质谱 | 第13-17页 |
| ·离子源 | 第14页 |
| ·低能注入系统 | 第14页 |
| ·串列加速器 | 第14-15页 |
| ·高能分析系统 | 第15-16页 |
| ·探测器 | 第16-17页 |
| 3.AMS测量中排除本底的方法 | 第17-24页 |
| ·同位素本底的排除方法 | 第18页 |
| ·同量异位素本底的排除方法 | 第18-24页 |
| ·负离子或分子离子法 | 第18页 |
| ·能量损失法 | 第18-19页 |
| ·充气磁谱仪 | 第19-20页 |
| ·Bragg谱仪 | 第20-21页 |
| ·入射粒子x射线法 | 第21-22页 |
| ·全剥离法 | 第22页 |
| ·激光和强电场法 | 第22-24页 |
| 第二章 ~(151)Sm的AMS测量方法的建立 | 第24-39页 |
| 1.中国原子能科学研究院的AMS系统 | 第24-25页 |
| ·离子源 | 第24页 |
| ·高能分析与传输部分 | 第24页 |
| ·探测器部分 | 第24-25页 |
| ·应用于~(151)Sm的探测系统 | 第25页 |
| 2.AMS测量~(151)Sm中需要解决的关键问题 | 第25-28页 |
| ·~(151)Sm的生成 | 第25-27页 |
| ·测量~(151)Sm中样品形式的选则与制备 | 第27-28页 |
| 3.离子源引出参数的设定 | 第28-29页 |
| 4.引出效率和传输效率的测定 | 第29-32页 |
| 5.同位素干扰的排除及鉴别 | 第32页 |
| 6.同量异位素干扰的排除及鉴别 | 第32-33页 |
| 7.测量~(151)Sm的探测器系统 | 第33-37页 |
| ·多阳极电离室系统 | 第33-34页 |
| ·金硅面垒(SBD)半导体系统 | 第34页 |
| ·飞行时间(TOF)系统 | 第34-37页 |
| 8.测量~(151)Sm的数据采集系统 | 第37-39页 |
| 第三章 ~(151)Sm的AMS实验测量 | 第39-42页 |
| 1.实验测量 | 第39-40页 |
| ·装样形式的选择与安装 | 第39页 |
| ·束流的引出 | 第39-40页 |
| 2.数据获取 | 第40-42页 |
| 第四章 实验结果分析与讨论 | 第42-51页 |
| 1.前期的实验结果 | 第42-45页 |
| 2.近期的实验结果 | 第45-49页 |
| 3.结果讨论 | 第49-51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 附录1 | 第54-55页 |