V-BLAST中硬判反馈迭代和检测研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-10页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
·研究背景 | 第10-12页 |
·多天线技术 | 第12-15页 |
·智能天线技术 | 第12-13页 |
·分集接收技术 | 第13-14页 |
·空间复用技术 | 第14-15页 |
·V-BLAST 技术研究概括 | 第15-16页 |
·论文研究内容 | 第16-18页 |
第二章 MIMO 信道建模和信道容量 | 第18-28页 |
·无线衰落信道 | 第18-21页 |
·无线信道模型 | 第19-20页 |
·四种常用的信道模型 | 第20-21页 |
·MIMO 信道模型 | 第21-23页 |
·MIMO 系统容量 | 第23-27页 |
·准静态瑞利衰落信道下的 MIMO 系统容量 | 第23-26页 |
·MIMO 信道容量的表示方法 | 第26-27页 |
·相关性对MIMO 系统容量的影响 | 第27页 |
·小结 | 第27-28页 |
第三章 空时编码 | 第28-42页 |
·空时分组码 | 第28-32页 |
·空时分组码编码 | 第28-30页 |
·空时分组码的译码 | 第30-32页 |
·空时网格码 | 第32-35页 |
·空时网格码编码 | 第32-34页 |
·空时网格码的译码 | 第34-35页 |
·差分空时分组码 | 第35-38页 |
·差分空时分组码编码 | 第35-36页 |
·差分空时分组码译码 | 第36-38页 |
·性能仿真和结果讨论 | 第38-40页 |
·小结 | 第40-42页 |
第四章 V-BLAST 系统结构及其检测算法研究 | 第42-65页 |
·V-BLAST 系统简介 | 第42-43页 |
·LST 发射机 | 第43-47页 |
·垂直分层结构 | 第44-45页 |
·水平分层结构 | 第45-46页 |
·对角分层空时结构 | 第46-47页 |
·螺旋分层空时结构 | 第47页 |
·分集合并技术 | 第47-51页 |
·选择合并(SC) | 第48页 |
·最大比合并(MRC) | 第48-49页 |
·等增益合并(EGC) | 第49-51页 |
·V-BLAST 检测算法研究 | 第51-62页 |
·极大似然算法(ML) | 第52-53页 |
·迫零(ZF)算法和最小均方误差(MMSE)算法 | 第53-54页 |
·干扰抑制和干扰消除算法 | 第54-58页 |
·一种改进的V-BLAST 检测算法 | 第58-62页 |
·基于自适应调制的 V-BLAST 检测算法 | 第62页 |
·仿真与讨论 | 第62-64页 |
·小结 | 第64-65页 |
第五章 水平和垂直编码硬判决反馈迭代研究 | 第65-78页 |
·引言 | 第65页 |
·水平编码和垂直编码系统模型 | 第65-69页 |
·卷积码的基本知识 | 第65-66页 |
·水平编码和垂直编码结构 | 第66-67页 |
·系统模型 | 第67-69页 |
·硬判迭代接收机方案 | 第69-74页 |
·PIC 迭代接收机 | 第69-72页 |
·BIC 结合 PIC | 第72-74页 |
·仿真与讨论 | 第74-77页 |
·BIC 与 OSIC 性能比较 | 第74页 |
·水平编码和垂直编码性能比较 | 第74-76页 |
·天线数目对接收机性能的影响 | 第76-77页 |
·错误扩散对性能的影响 | 第77页 |
·小结 | 第77-78页 |
第六章 总结和展望 | 第78-80页 |
参考文献 | 第80-83页 |
致谢 | 第83-84页 |
作者攻读硕士学位期间发表的论文 | 第84页 |