| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| §1-1 引言 | 第8-9页 |
| §1-2 国内外电器可靠性技术的发展及试验数据处理的研究现状 | 第9-11页 |
| 1-2-1 国外研究现状 | 第9-10页 |
| 1-2-2 国内研究现状 | 第10-11页 |
| §1-3 本课题研究内容 | 第11-13页 |
| 第二章 低压电器可靠性试验数据软件的总体设计方案 | 第13-21页 |
| §2-1 程序开发环境的选定 | 第13-17页 |
| §2-2 低压电器可靠性试验数据软件的总体框架 | 第17-21页 |
| 第三章 低压电器可靠性试验数据失效分布类型的确定 | 第21-37页 |
| §3-1 常见的失效分布类型 | 第21-26页 |
| §3-2 失效分布类型的确定方法 | 第26-37页 |
| 3-2-1 失效分布类型的估计 | 第26-31页 |
| 3-2-2 失效分布类型的检验 | 第31-37页 |
| 第四章 可靠性特征量的估计 | 第37-49页 |
| §4-1 大子样时可靠性特征量的估计 | 第37-45页 |
| 4-1-1 可靠性特征量的点估计法 | 第37-41页 |
| 4-1-2 可靠性特征量的区间估计 | 第41-45页 |
| §4-2 小子样时可靠性特征量的估计 | 第45-46页 |
| §4-3 可靠性特征量的软件实现 | 第46-49页 |
| 第五章 无失效数据情形下数据处理的研究 | 第49-55页 |
| §5-1 概述 | 第49-50页 |
| §5-2 威布尔分布无失效数据的处理方法 | 第50-51页 |
| §5-3 无失效数据时的可靠性特征量的点估计 | 第51-55页 |
| 5-3-1 Bayes统计推断的基本观点 | 第51页 |
| 5-3-2 Bayes方法对可靠性特征量进行估计的基本思想 | 第51页 |
| 5-3-3 可靠性特征量进行估计的Bayes估计 | 第51-55页 |
| 第六章 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第59页 |