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基于LabVIEW的纳米三坐标测量机控制

第一章 绪论第1-20页
 1-1 研究起源及目的第14-15页
 1-2 文献回顾第15-20页
  1-2-1 纳米三坐标测量机技术第15-16页
  1-2-2 光栅信号细分技术第16-17页
  1-2-3 纳米定位技术第17-18页
  1-2-4 速度控制技术第18-20页
第二章 纳米三坐标测量机系统简介第20-25页
 2-1 概述第20页
 2-2 线性衍射光栅干涉仪(LDGI)第20-21页
 2-3 压电陶瓷驱动器HR4第21-22页
 2-4 DVD读取头第22-23页
  2-4-1 运作原理第22-23页
  2-4-2 DVD读取头的聚焦误差信号第23页
 2-5 硬件系统整合第23-24页
 2-6 软件开发平台—LabVIEW简介第24-25页
第三章 光栅信号采集、处理与位移计算第25-35页
 3-1 概述第25-26页
 3-2 信号采集第26-27页
  3-2-1 信号采集系统第26页
  3-2-2 中高速采集对策第26-27页
 3-3 信号计数、细分及位移计算第27-29页
  3-3-1 计数及辨向原理第27-28页
  3-3-2 错误计数的剔除第28-29页
  3-3-3 相位细分原理第29页
  3-3-4 位移计算第29页
 3-4 信号处理第29-34页
  3-4-1 原始信号失真及其成因分析第29-30页
  3-4-2 信号整形处理第30-34页
 3-5 程序面板第34-35页
第四章 纳米定位技术第35-47页
 4-1 概述第35-36页
 4-2 三种驱动模式第36-37页
  4-2-1 连续运动(AC模式)第36页
  4-2-2 脉冲驱动(GATE模式)第36页
  4-2-3 位移微调(DC模式)第36-37页
 4-3 纳米定位技术第37-38页
 4-4 速度控制技术第38-47页
  4-4-1 经典PID控制第38-39页
  4-4-2 基于反向传播神经网络(BPNN)的PID控制第39-43页
  4-4-3 控制方案的实现第43页
  4-4-4 控制效果第43-47页
第五章 测头控制技术第47-52页
 5-1 概述第47页
 5-2 测头瞄准原理第47页
 5-3 测头控制方案第47-49页
 5-4 聚焦误差曲线的典型应用—光栅栅距测量第49-52页
第六章 软件系统第52-59页
 6-1 基本输入输出功能第52-53页
  6-1-1 信号连续采集第52-53页
  6-1-2 简单驱动第53页
  6-1-3 DC模式驱动特性测试第53页
 6-2 XY两轴功能程序第53-56页
  6-2-1 基于LDGI信号的位移测量程序第53-54页
  6-2-2 定位程序第54-55页
  6-2-3 速度控制程序第55-56页
 6-3 测头控制程序第56页
 6-4 数据处理程序第56-57页
  6-4-1 圆周拟合程序第56-57页
  6-4-2 光栅栅距测量数据处理程序第57页
 6-5 总调用程序第57-59页
第七章 软件系统第59-70页
 7-1 定位实验第59-61页
 7-2 使用LDGI进行位移测量第61-63页
 7-3 速度控制下的LDGI位移测量第63-65页
 7-4 导轨直线度测试第65-66页
 7-5 测头定位控制第66-70页
第八章 结论与讨论第70-73页
 8-1 关于信号处理和分析第70-71页
 8-2 关于定位控制第71页
 8-3 关于测头控制第71页
 8-4 关于速度控制第71-73页
参考文献第73-76页
攻读硕士学位期间发表的论文第76页

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