铁电薄膜表面与界面特性的扫描力显微镜研究
第一章 绪论 | 第1-16页 |
·扫描力显微镜的发展简史 | 第10-11页 |
·研究动态 | 第11-16页 |
·开尔文力显微镜的技术发展 | 第11-13页 |
·KPFM 在材料研究领域中的应用 | 第13-16页 |
第二章 实验 | 第16-26页 |
·理论分析 | 第16-24页 |
·铁电极化和表面电势 | 第16-17页 |
·扫描力显微镜的基本原理 | 第17-19页 |
·锁相放大技术 | 第19-20页 |
·开尔文力显微镜及电势成像方法 | 第20-22页 |
·压电响应力显微镜 | 第22-24页 |
·实验仪器 | 第24-25页 |
·样品制备 | 第25-26页 |
第三章 表面电势检测方法 | 第26-34页 |
·检测手段的验证 | 第26-27页 |
·KPFM 的表面电势高分辨成像 | 第27-30页 |
·电势表征对形貌表征的干扰 | 第30-31页 |
·铁电薄膜表面电势分布和电畴关系 | 第31-34页 |
第四章 铁电薄膜的表面电荷沉积 | 第34-44页 |
·铁电薄膜表面电荷沉积的非对称现象研究 | 第34-41页 |
·PZT 薄膜表面的非对称电荷沉积 | 第34-37页 |
·界面电场模型 | 第37-40页 |
·小结 | 第40-41页 |
·铁电薄膜表面电荷沉积的其它基本性质 | 第41-44页 |
·沉积电荷的弛豫性能研究 | 第41-43页 |
·SBT 薄膜的表面电荷存储 | 第43-44页 |
第五章 铁电薄膜的界面电性能 | 第44-55页 |
·铁电薄膜断面样品的制备方法 | 第44-45页 |
·铁电薄膜界面性能的表征方法 | 第45-50页 |
·用于界面观测的样品台的设计 | 第45-47页 |
·用于SPM 的薄膜断面的定位方法 | 第47-50页 |
·铁电薄膜界面特性的SPM 表征 | 第50-55页 |
·倾斜抛光的PZT 薄膜的断面表征 | 第50-53页 |
·透射电镜制样方法制备的PZT 薄膜断面观测 | 第53-55页 |
第六章 结论 | 第55-57页 |
致谢 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-63页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第63页 |