| 引言 | 第1-10页 |
| 参考文献 | 第9-10页 |
| 第一章 文献综述 | 第10-33页 |
| ·磁电阻效应 | 第10-12页 |
| ·铁磁金属及合金中的AMR效应 | 第12-21页 |
| ·AMR效应的唯象理论 | 第12-14页 |
| ·AMR的微观理论 | 第14-17页 |
| ·AMR和Bohr磁子数的关系 | 第17-18页 |
| ·磁晶各向异性、磁致伸缩与AMR | 第18-20页 |
| ·各向异性磁电阻材料的应用 | 第20页 |
| ·常用各向异性磁电阻材料 | 第20-21页 |
| ·微结构对各向异性磁电阻效应的影响 | 第21-26页 |
| ·工艺条件对各向异性磁电阻效应的影响 | 第26-30页 |
| 参考文献 | 第30-33页 |
| 第二章 样品的制备和分析测试原理 | 第33-41页 |
| ·薄膜样品的制备 | 第33-36页 |
| ·磁控溅射原理 | 第33-35页 |
| ·薄膜样品的制备 | 第35-36页 |
| ·薄膜的分析测试原理 | 第36-40页 |
| ·磁性能测量 | 第36-38页 |
| ·磁电阻效应的四探针法测量 | 第38-39页 |
| ·薄膜厚度的测量 | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第三章 缓冲层对NiCo薄膜各向异性磁电阻效应的影响 | 第41-56页 |
| ·Co的含量x对Ta／Ni_(1-x)Co_x薄膜AMR的影响 | 第41-44页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·实验 | 第41页 |
| ·结果与分析 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| ·缓冲层(Ni_(0.81)Fe_(0.19))_(1-x)Cr_x对Ni_(74)Co_(26)薄膜AMR的影响 | 第44-52页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·实验 | 第44-45页 |
| ·结果与分析 | 第45-51页 |
| ·缓冲层(Ni_(0.81)Fe_(0.19))_(1-x)Cr_x对Ni_(74)Co_(26)薄膜AMR的影响 | 第45-46页 |
| ·两种缓冲层对Ni_(74)Co_(26)薄膜的各向异性磁电阻值影响的比较 | 第46-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| ·缓冲层(Ni_(0.81)Fe_(0.19)_(66)Cr_(34)的厚度对Ni_(74)Co_(26)薄膜AMR的影响 | 第52-56页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·实验 | 第52页 |
| ·结果与分析 | 第52-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
