多工位平面磁控溅射镀膜装置及膜厚分布均匀性研究
第一章 前言 | 第1-10页 |
第二章 磁控溅射基本原理 | 第10-21页 |
·溅射原理 | 第10-15页 |
·辉光放电 | 第10-14页 |
·溅射特性 | 第14-15页 |
·溅射镀膜类型 | 第15-19页 |
·直流溅射 | 第15-16页 |
·射频溅射 | 第16-17页 |
·磁控溅射 | 第17-19页 |
·溅射薄膜形成过程 | 第19-21页 |
第三章 多工位平面磁控溅射镀膜装置 | 第21-24页 |
·多工位平面磁控溅射镀膜装置的结构 | 第21-22页 |
·多工位平面磁控溅射镀膜装置的工作原理 | 第22-23页 |
·多工位平面磁控溅射镀膜装置的特点 | 第23-24页 |
第四章 膜厚分布模型及分析 | 第24-49页 |
·膜厚分布的模型 | 第24-27页 |
·膜厚分布的物理模型 | 第24-25页 |
·膜厚分布的数学模型 | 第25-27页 |
·分析与讨论 | 第27-45页 |
·极角方向的均匀性 | 第27-28页 |
·极径方向的均匀性 | 第28-45页 |
·b对薄膜均匀性分布的影响 | 第45-49页 |
·相同半径上平均膜厚分布模型 | 第45-47页 |
·b对薄膜均匀性分布的影响 | 第47-49页 |
第五章 实验数据与处理 | 第49-63页 |
·实验装置与样品制备 | 第49页 |
·膜厚测量 | 第49-50页 |
·片内均匀性 | 第50-56页 |
·数据测量 | 第50-55页 |
·数据处理 | 第55-56页 |
·片间均匀性 | 第56-59页 |
·数据测量 | 第56-58页 |
·数据处理及分析 | 第58-59页 |
·批次间均匀性 | 第59-63页 |
·数据测量 | 第59-61页 |
·数据处理及分析 | 第61-63页 |
第六章 结论 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
致谢 | 第66页 |