| 中文摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT（英文摘要） | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-14页 |
| 1．1 高速光信号测量中的光取样技术 | 第10-12页 |
| 1．2 模数转换中的高速光取样技术 | 第12-14页 |
| 第二章 高速光信号取样模块 | 第14-36页 |
| 2．1 引言 | 第14页 |
| 2．2 取样光脉冲源 | 第14-26页 |
| 2．2．1 EA-SOA主动锁模光纤环形激光器 | 第15-21页 |
| 2．2．2 光纤环腔被动锁模激光器 | 第21-26页 |
| 2．3 高速光子开关 | 第26-34页 |
| 2．3．1 半导体光放大器环镜（SLALOM）： | 第26-30页 |
| 2．3．2 超高速非线性干涉仪（UNI） | 第30-32页 |
| 2．3．3 半导体光放大器SOA的带内非线性特性 | 第32-34页 |
| 2．4 小结 | 第34-36页 |
| 第三章 高速光信号取样测量 | 第36-65页 |
| 3．1 引言 | 第36-37页 |
| 3．2 频差法取样原理 | 第37-41页 |
| 3．3 高速光信号取样测量主要方案 | 第41-44页 |
| 3．4 频差光取样法测量波形实验 | 第44-47页 |
| 3．5 频差法波形测量数值模拟 | 第47-50页 |
| 3．6 取样脉宽对测量精度的影响与”低通滤波”模型 | 第50-56页 |
| 3．7 数字通信系统性能测量中的固定频差法 | 第56-59页 |
| 3．8 电吸收调制器在光取样技术中的应用 | 第59-63页 |
| 3．9 小结 | 第63-65页 |
| 第四章 光数字信号质量监测 | 第65-91页 |
| 4．1 引言 | 第65-66页 |
| 4．2 信号误差的高斯近似与Q参数 | 第66-69页 |
| 4．3 幅度柱状图取样 | 第69-78页 |
| 4．3．1 同步幅度柱状图 | 第69-71页 |
| 4．3．2 异步幅度柱状图 | 第71-72页 |
| 4．3．3 异步幅度柱状图取样实验 | 第72-78页 |
| 4．4 幅度柱状图法误差分析 | 第78-90页 |
| 4．4．1 幅度柱状图取样误差 | 第78-80页 |
| 4．4．2 矩生成函数与鞍点近似法 | 第80-83页 |
| 4．4．3 幅度取样的误差算法 | 第83-87页 |
| 4．4．4 幅度取样误码率 | 第87-90页 |
| 4．5 小结 | 第90-91页 |
| 第五章 模数转换中的高速光取样技术 | 第91-124页 |
| 5．1 引言 | 第91-94页 |
| 5．2 高速光模数转换方案及讨论 | 第94-101页 |
| 5．2．1 利用多波长脉冲串进行时域取样 | 第94-95页 |
| 5．2．2 利用色散作用的时域展宽（Time Stretch）： | 第95-100页 |
| 5．2．3 时域展宽与波分/时分复用混合方案： | 第100-101页 |
| 5．3 模数转换的量化误差 | 第101-102页 |
| 5．4 取样脉冲与取样精度 | 第102-109页 |
| 5．4．1 脉冲宽度 | 第102-107页 |
| 5．4．2 脉冲时间抖动 | 第107-109页 |
| 5．4．3 脉冲幅度抖动 | 第109页 |
| 5．5 光子时分取样模数转换 | 第109-123页 |
| 5．5．1 光子时分取样实验 | 第110-116页 |
| 5．5．2 时分取样实验误差分析 | 第116-123页 |
| 5．6 小结 | 第123-124页 |
| 结论 | 第124-126页 |
| 参考文献 | 第126-135页 |
| 致谢及声明 | 第135-136页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的论文 | 第136-137页 |