摘要(中文) | 第1-5页 |
摘要(英文) | 第5-7页 |
目录(中文) | 第7-9页 |
目录(英文) | 第9-11页 |
第一章 绪论 | 第11-22页 |
·论文选题背景 | 第11-13页 |
·国内外研究概况 | 第13-15页 |
·几何量测量的现有技术途径综述 | 第15-18页 |
·基于PC机的开放式数控系统的研究及应用状况 | 第18-19页 |
·论文研究的意义及主要研究内容 | 第19-22页 |
第二章 天线罩性能要求及技术参数分析 | 第22-28页 |
·天线罩电厚度与几何厚度 | 第22-24页 |
·天线罩技术要求分析 | 第24-25页 |
·几何参数测量问题的提出及测量技术要求 | 第25-27页 |
·小结 | 第27-28页 |
第三章 天线罩几何参数自动测量原理研究 | 第28-37页 |
·概述 | 第28页 |
·天线罩几何参数测量原理研究 | 第28-31页 |
·天线罩几何参数测量的总体方案 | 第31-35页 |
·测量精度预分配 | 第35-36页 |
·小结 | 第36-37页 |
第四章 天线罩廓形误差评定的原理和方法研究 | 第37-52页 |
·概述 | 第37-39页 |
·天线罩曲面的Frenet标架及相伴曲面方法 | 第39-41页 |
·天线罩廓形误差评定的线性几何模型 | 第41-43页 |
·原始法向误差的求法 | 第43页 |
·天线罩廓形误差评定的线性规划模型及解法 | 第43-48页 |
·天线罩廓形误差评定的操作处理方法 | 第48-50页 |
·小结 | 第50-52页 |
第五章 天线罩几何参数自动测量测控系统研究 | 第52-68页 |
·概述 | 第52-53页 |
·测控系统方案研究 | 第53-54页 |
·基于IPC的开放式测控系统研究 | 第54-58页 |
·测量系统机械部分主机设计 | 第58-62页 |
·测控系统的关键技术研究 | 第62-66页 |
·小结 | 第66-68页 |
第六章 测控系统软件系统研究 | 第68-80页 |
·软件系统总体设计原则及方法 | 第68-70页 |
·软件系统的体系结构和功能 | 第70-72页 |
·Windows9X下工业实时控制可行性分析与技术途径 | 第72-73页 |
·几何参数测量软件中的关键技术研究 | 第73-78页 |
·小结 | 第78-80页 |
第七章 测量数据综合处理方法研究 | 第80-94页 |
·测量数据的预处理方法 | 第80-82页 |
·测量数据的一致化处理方法 | 第82-84页 |
·测量结果的可视化处理方法 | 第84-93页 |
·小结 | 第93-94页 |
第八章 测量实例及测量系统精度的分析与评价 | 第94-108页 |
·测量实例 | 第94-99页 |
·测量系统精度评价方法 | 第99-100页 |
·测量系统精度评价实例 | 第100-105页 |
·测量系统重复测量精度分析 | 第105页 |
·测量系统总体测量精度分析 | 第105-107页 |
·小结 | 第107-108页 |
第九章 结论 | 第108-110页 |
参考文献 | 第110-116页 |
作者在攻读博士学位期间发表的学术论文和研究所取得的成果 | 第116-117页 |
致谢 | 第117-118页 |
论文创新点摘要 | 第118-119页 |
附录 | 第119-124页 |