| 第一章 绪论 | 第1-14页 |
| 1．1 ICF与等离子体诊断技术的发展 | 第6页 |
| 1．2 光谱诊断与X射线吸收谱 | 第6-8页 |
| 1．3 等离子体系统内的原子物理过程和局域热动平衡 | 第8-9页 |
| 1．4 X射线吸收理论研究的进展 | 第9-11页 |
| 1．5 国内外X射线吸收特性实验研究的进展 | 第11-14页 |
| 第二章 理论模型与计算方法 | 第14-26页 |
| 2．1 不可分辨跃迁系（UTA）模型 | 第14-15页 |
| 2．2 等离子体中原子离化势的下降修正 | 第15-17页 |
| 2．2．1 等离子体内库仑相互作用的德拜理论 | 第15-17页 |
| 2．2．2 离化势的下降修正 | 第17页 |
| 2．3 量子数亏损理论 | 第17-21页 |
| 2．4 计算方法 | 第21-26页 |
| 第三章 实验 | 第26-29页 |
| 3．1 实验Ⅰ-点背光吸收实验 | 第26-27页 |
| 3．1．1 靶结构与参数 | 第26-27页 |
| 3．1．2 点背光吸收实验原理与布置 | 第27页 |
| 3．2 实验Ⅱ-多层靶面背光吸收实验 | 第27-29页 |
| 3．2．1 多层靶 | 第27页 |
| 3．2．2 多层靶背光吸收实验原理 | 第27-29页 |
| 第四章 实验结果与理论分析 | 第29-44页 |
| 4．1 平焦场光栅谱仪 | 第29-32页 |
| 4．1．1 平焦场光栅谱仪 | 第29-30页 |
| 4．1．2 平焦场光栅谱仪的焦面 | 第30-32页 |
| 4．2 点背光吸收实验结果与理论分析 | 第32-37页 |
| 4．2．1 实验Ⅰ结果处理 | 第32-33页 |
| 4．2．2 镁样品等离子体的特征发射谱和金等离子体背光发射谱 | 第33页 |
| 4．2．3 镁样品等离子体的L壳层特征吸收谱 | 第33-35页 |
| 4．2．4 镁样品等离子体的电子温度和密度 | 第35页 |
| 4．2．5 L壳层X射线吸收的理论计算与分析 | 第35-36页 |
| 4．2．6 光电荧光效应 | 第36-37页 |
| 4．2．7 样品等离子体的离化度分布 | 第37页 |
| 4．3 多层靶面背光吸收实验结果与理论分析 | 第37-43页 |
| 4．3．1 辐射烧蚀铝样品等离子体 | 第37-38页 |
| 4．3．2 金等离子体背光源谱和铝样品等离子体的特征发射谱 | 第38-39页 |
| 4．3．3 铝样品等离子体的L壳层特征吸收谱 | 第39-40页 |
| 4．3．4 铝样品等离子体的L壳层特征吸收的理论计算和分析 | 第40-43页 |
| 4．3．5 铝样品等离子体的离化度分布 | 第43页 |
| 4．4 结论和进一步的工作 | 第43-44页 |
| 致谢 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 附录 | 第47页 |
