| 第一章 绪论 | 第1-10页 |
| 1．1 本课题的现状和发展 | 第6-8页 |
| 1．2 国外的发展 | 第8-9页 |
| 1．3 本人的论文工作 | 第9-10页 |
| 第二章 电子显微学及实验设备 | 第10-22页 |
| 2．1 电子显微学原理 | 第10-19页 |
| 2．2 主要实验设备 | 第19-20页 |
| 2．3 薄膜制备 | 第20-21页 |
| 2．4 样品制备 | 第21-22页 |
| 第三章 实验结果与讨论 | 第22-60页 |
| 3．1 透射电镜（TEM）的结果与分析 | 第22-32页 |
| 3．2 薄膜XRD的结果与分析 | 第32-35页 |
| 3．3 扫描电镜（SEM）的结果与分析 | 第35-41页 |
| 3．4 原子力（AFM）的结果与分析 | 第41-51页 |
| 3．5 薄膜EDX的结果与分析 | 第51-55页 |
| 3．6 力学性能的结果与分析 | 第55-60页 |
| 第四章 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |