| 提要 | 第1-8页 |
| 第一章 前言 | 第8-34页 |
| ·交替沉积技术的提出 | 第8-9页 |
| ·交替沉积技术发展 | 第9-23页 |
| ·成膜驱动力研究 | 第9-10页 |
| ·设备辅助交替沉积 | 第10-13页 |
| ·新组装概念 | 第13-23页 |
| ·层状组装膜的快速构筑技术 | 第23-28页 |
| ·旋涂－组装技术 | 第23-24页 |
| ·喷涂－层状组装技术 | 第24-25页 |
| ·指数增长的层状组装膜 | 第25-28页 |
| 参考文献 | 第28-34页 |
| 第二章 聚电解质稳定的表面活性剂胶束作为构筑基元实现非水溶性有机小分子的层状组装 | 第34-49页 |
| ·研究背景及目的 | 第34页 |
| ·实验部分 | 第34-35页 |
| ·实验材料 | 第34-35页 |
| ·表征仪器 | 第35页 |
| ·实验方法 | 第35-39页 |
| ·基片的选择与修饰 | 第35-36页 |
| ·基底处理 | 第36页 |
| ·多层膜的制备 | 第36-38页 |
| ·多层膜性质测定 | 第38-39页 |
| ·实验结果与讨论 | 第39-47页 |
| ·CTAB 胶束与PSS 进行层状组装的研究 | 第39-40页 |
| ·[(Py-CTAB)&PAANa/PDDA]多层膜的紫外-可见光谱监测 | 第40页 |
| ·[(Py-CTAB)&PAANa/PDDA]多层膜的QCM 监测 | 第40-41页 |
| ·薄膜中芘所处微环境的研究 | 第41-42页 |
| ·剖面SEM 法确定薄膜厚度 | 第42-43页 |
| ·AFM 观察薄膜表面形貌 | 第43-45页 |
| ·薄膜稳定性的研究 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-49页 |
| 第三章 聚电解质复合物为构筑基元的层状组装膜的构筑 | 第49-69页 |
| ·研究背景及目的 | 第49-50页 |
| ·实验部分 | 第50-51页 |
| ·实验材料 | 第50页 |
| ·表征仪器 | 第50-51页 |
| ·实验方法 | 第51-52页 |
| ·PAH-PAA 复合物的制备 | 第51页 |
| ·PSS/PAH –PAA 复合物膜的制备 | 第51-52页 |
| ·实验结果与讨论 | 第52-66页 |
| ·PAH-PAA 复合物的制备 | 第52-54页 |
| ·PAH-PAA/PSS 多层膜的制备 | 第54-55页 |
| ·PSS/PAH-PAA 复合物膜的结构表征 | 第55-61页 |
| ·层层组装带相反电荷的PAH-PAA 复合物 | 第61-63页 |
| ·PSS/PAH-PAA_(0.5)自支持膜的制备 | 第63-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 作者简历 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 摘要 | 第72-74页 |
| ABSTRACT | 第74-76页 |
