| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 前言 | 第10-13页 |
| 第二章 材料与方法 | 第13-23页 |
| ·材料 | 第13-15页 |
| ·受试细胞 | 第13页 |
| ·主要试剂 | 第13页 |
| ·试验溶液配制 | 第13-15页 |
| ·主要仪器 | 第15页 |
| ·方法 | 第15-23页 |
| ·试验技术路线 | 第15-16页 |
| ·细胞培养 | 第16页 |
| ·细胞生存率测定(MTT法) | 第16页 |
| ·细胞DNA损伤的检测(单细胞凝胶电泳) | 第16-17页 |
| ·细胞形态学观察 | 第17-18页 |
| ·细胞凋亡率检测(流式细胞仪分析法) | 第18页 |
| ·线粒体膜损伤 | 第18-19页 |
| ·细胞氧化损伤指标的测定(化学比色法) | 第19-22页 |
| ·统计分析 | 第22-23页 |
| 第三章 结果 | 第23-33页 |
| ·Cr(Ⅵ)对Hep3B细胞生存率的影响 | 第23-24页 |
| ·Cr(Ⅵ)诱导Hep3B细胞DNA损伤 | 第24-26页 |
| ·Cr(Ⅵ)诱导Hep3B细胞形态学改变 | 第26-29页 |
| ·普通光学显微镜观察(姬母萨染色法) | 第26-28页 |
| ·电镜观察 | 第28-29页 |
| ·Cr(Ⅵ)诱导Hep3B细胞凋亡 | 第29-31页 |
| ·Cr(Ⅵ)诱导线粒体损伤 | 第31-32页 |
| ·Cr(Ⅵ)对Hep3B细胞线粒体PTP开放度的影响 | 第31页 |
| ·Cr(Ⅵ)对Hep3B细胞线粒体跨膜电位(ΔΨm)的影响 | 第31-32页 |
| ·Cr(Ⅵ)诱导Hep3B细胞氧化损伤 | 第32-33页 |
| 第四章 讨论 | 第33-38页 |
| ·非p53非caspase条件下Cr(Ⅵ)诱导细胞线粒体损伤、DNA损伤与氧化应激的关系 | 第33-34页 |
| ·非p53非caspase条件下cr(Ⅵ)细胞凋亡的可能机制 | 第34-36页 |
| ·非p53非caspase条件下NAC拮抗Cr(Ⅵ)诱导细胞凋亡的可能机制 | 第36-38页 |
| 第五章 结论 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-43页 |
| 综述 | 第43-54页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 附录 1 | 第55-56页 |
| 研究生期间成绩 | 第56页 |
