通用型阵列逻辑器件的版图设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 可编程逻辑器件概述 | 第9-16页 |
| ·可编程逻辑器件的特点 | 第10-11页 |
| ·可编程逻辑器件基本构造 | 第11-12页 |
| ·PLD 的基本结构 | 第11页 |
| ·PLD 器件的分类 | 第11-12页 |
| ·PLD 的编程单元 | 第12页 |
| ·不挥发存储器简介 | 第12-14页 |
| ·通用型阵列逻辑器件的应用 | 第14-15页 |
| ·研究通用阵列逻辑器件的意义 | 第15页 |
| ·总结 | 第15-16页 |
| 第二章 浮栅单元工作原理概述 | 第16-30页 |
| ·概述 | 第16-18页 |
| ·基本编程机制 | 第18-22页 |
| ·Fowler-Nordheim 隧道效应 | 第18-20页 |
| ·热电子注入 | 第20-22页 |
| ·基本擦除机制 | 第22-24页 |
| ·紫外线照射 | 第22页 |
| ·FN 隧道效应 | 第22-24页 |
| ·热载流子注入模型 | 第24-25页 |
| ·幸运电子模型和高阈值电压VT | 第24-25页 |
| ·NVM 可靠性问题 | 第25-29页 |
| ·耐久力特性 | 第26-27页 |
| ·数据保持能力特性 | 第27-28页 |
| ·存储器干扰 | 第28-29页 |
| ·结论 | 第29-30页 |
| 第三章 通用阵列逻辑器件电路设计 | 第30-60页 |
| ·概述 | 第30-31页 |
| ·GAL 器件介绍 | 第31-37页 |
| ·概述 | 第31-32页 |
| ·通用型 | 第32页 |
| ·扩展型 | 第32-33页 |
| ·异步型 | 第33-34页 |
| ·异或型 | 第34-35页 |
| ·大电流输出型 | 第35页 |
| ·低功耗型 | 第35-36页 |
| ·FPLA 型 | 第36-37页 |
| ·总体结构 | 第37页 |
| ·电路设计技术 | 第37-54页 |
| ·输出逻辑宏单元（OLMC） | 第37-43页 |
| ·阵列及编程控制逻辑设计 | 第43-45页 |
| ·读取时间的优化 | 第45-50页 |
| ·高压产生电路 | 第50-53页 |
| ·其它功能 | 第53-54页 |
| ·部分电路仿真结果 | 第54-59页 |
| ·结论 | 第59-60页 |
| 第四章 通用阵列逻辑器件版图设计 | 第60-77页 |
| ·版图设计流程 | 第60-61页 |
| ·版图设计的工艺约束 | 第61-64页 |
| ·闩锁（Latch UP） | 第61-63页 |
| ·天线效应 | 第63-64页 |
| ·阵列版图实现 | 第64-67页 |
| ·阵列外围模块的修改和版图布局 | 第67-70页 |
| ·其它模块的版图设计 | 第70-72页 |
| ·测试模块 | 第72-75页 |
| ·结论 | 第75-77页 |
| 第五章 通用阵列逻辑器件测试 | 第77-80页 |
| ·器件编程测试 | 第77-78页 |
| ·回读测试 | 第78页 |
| ·擦除测试 | 第78页 |
| ·逻辑功能及时序功能的测试 | 第78-79页 |
| ·失效分析和失效试验 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| ·工作总结 | 第80-81页 |
| ·工作展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第86-87页 |
| 个人简历 | 第87-88页 |
