基于寿命模型的IGBT模块结温管理研究
| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第10-32页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-16页 |
| 1.1.1 结温管理技术的理论依据 | 第11-15页 |
| 1.1.2 非平稳工况下IGBT结温波动特点 | 第15-16页 |
| 1.2 IGBT结温管理技术综述 | 第16-29页 |
| 1.2.1 结温管理的仿真模型 | 第16-17页 |
| 1.2.2 结温调节的控制方法 | 第17-22页 |
| 1.2.3 全局结温管理策略 | 第22页 |
| 1.2.4 结温调节方法 | 第22-29页 |
| 1.3 论文的主要研究内容 | 第29-32页 |
| 2 IGBT行为模型参数校正方法 | 第32-48页 |
| 2.1 引言 | 第32页 |
| 2.2 行为模型开关暂态理论分析 | 第32-37页 |
| 2.3 实测和仿真暂态波形对比分析 | 第37-40页 |
| 2.4 行为模型参数校正方法 | 第40-44页 |
| 2.5 实验验证 | 第44-46页 |
| 2.5.1 行为模型校正后的通用性 | 第44-45页 |
| 2.5.2 应用举例 | 第45-46页 |
| 2.6 本章小结 | 第46-48页 |
| 3 基于壳温温差补偿的结温调节闭环控制方法 | 第48-62页 |
| 3.1 引言 | 第48页 |
| 3.2 壳温温差补偿的适用范围 | 第48-51页 |
| 3.3 壳温温差补偿的实现方法 | 第51-53页 |
| 3.4 仿真及实验验证 | 第53-59页 |
| 3.4.1 仿真验证 | 第53-55页 |
| 3.4.2 实验平台 | 第55-58页 |
| 3.4.3 实验验证 | 第58-59页 |
| 3.5 本章小结 | 第59-62页 |
| 4 基于幂函数分配规则的全局结温管理策略 | 第62-92页 |
| 4.1 引言 | 第62页 |
| 4.2 结温管理评价方法 | 第62-72页 |
| 4.2.1 热载荷评估方法 | 第62-68页 |
| 4.2.2 寿命评估流程 | 第68-70页 |
| 4.2.3 结温管理效果评价 | 第70-72页 |
| 4.3 基于幂函数分配规则的全局结温管理策略 | 第72-89页 |
| 4.3.1 现有结温管理控制策略分析 | 第72-74页 |
| 4.3.2 基于幂函数分配规则的全局结温管理策略 | 第74-81页 |
| 4.3.3 基于加窗的全局结温管理策略优化方法 | 第81-83页 |
| 4.3.4 应用举例 | 第83-89页 |
| 4.4 本章小结 | 第89-92页 |
| 5 基于等效关断轨迹的结温调节方法 | 第92-112页 |
| 5.1 引言 | 第92页 |
| 5.2 关断损耗调节结温 | 第92-93页 |
| 5.3 等效关断轨迹 | 第93-95页 |
| 5.4 TTAC工作原理 | 第95-97页 |
| 5.5 TTAC参数和关断损耗的关系 | 第97-103页 |
| 5.5.1 电阻对关断损耗的影响 | 第98-100页 |
| 5.5.2 电容对关断损耗的影响 | 第100-102页 |
| 5.5.3 tdelay与关断损耗的关系 | 第102-103页 |
| 5.6 TTAC结温调节能力的估算方法 | 第103-105页 |
| 5.7 实验验证 | 第105-110页 |
| 5.7.1 等效关断轨迹验证 | 第107-109页 |
| 5.7.2 TTAC调节能力验证 | 第109-110页 |
| 5.8 本章小结 | 第110-112页 |
| 6 全文总结 | 第112-116页 |
| 6.1 论文主要工作总结 | 第112-114页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第114-116页 |
| 致谢 | 第116-118页 |
| 参考文献 | 第118-128页 |
| 附录 | 第128页 |
| A 作者在攻读博士学位期间发表的论文 | 第128页 |
| B 作者在攻读博士学位期间申请的专利 | 第128页 |
| C 作者在攻读博士学位期间参研的科研项目 | 第128页 |
