摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第13-31页 |
1.1 引言 | 第13-14页 |
1.2 ZnO纳米材料的简介和应用 | 第14-17页 |
1.3 一维纳米线肖特基势垒的应用 | 第17-21页 |
1.3.1 金属与半导体的接触 | 第17-18页 |
1.3.2 一维纳米线肖特基势垒在光电器件中的应用 | 第18-20页 |
1.3.3 一维纳米线肖特基势垒在传感器件中的应用 | 第20-21页 |
1.4 一维纳米线肖特基势垒的调控及测量 | 第21-24页 |
1.4.1 一维纳米线肖特基势垒的调控 | 第21-23页 |
1.4.2 一维纳米线肖特基势垒的AFM测试 | 第23-24页 |
1.5 纳米线肖特基势垒结构的计算及AFM测试 | 第24-28页 |
1.5.1 纳米线肖特基势垒独特的势垒结构 | 第24-25页 |
1.5.2 纳米线肖特基势垒结构的理论模拟 | 第25-27页 |
1.5.3 纳米线肖特基势垒结构的AFM测试 | 第27-28页 |
1.6 目前存在的主要问题 | 第28页 |
1.7 本论文的选题意义和目的 | 第28-29页 |
1.8 本论文的主要研究内容 | 第29-31页 |
第二章 三电极外侧电压测试法分析ZnO纳米线肖特基势垒电阻开关的机制 | 第31-53页 |
2.1 引言 | 第31-32页 |
2.2 单根ZnO纳米线肖特基器件的构筑 | 第32-37页 |
2.2.1 ZnO纳米线的制备 | 第32-33页 |
2.2.2 ZnO纳米线的表征 | 第33-35页 |
2.2.3 探针微操控法构筑单根ZnO纳米线器件 | 第35-36页 |
2.2.4 纳米线肖特基器件的测试结果 | 第36-37页 |
2.3 三电极体系下纳米线肖特基势垒结构的有限元模拟 | 第37-45页 |
2.3.1 理论模拟方法的简介 | 第37页 |
2.3.2 部分耗尽时纳米线肖特基势垒结构的模拟结果 | 第37-40页 |
2.3.3 纳米线肖特基势垒发生夹断的模拟结果 | 第40-43页 |
2.3.4 欧姆接触的模拟结果 | 第43-44页 |
2.3.5 不同势垒结构的电压输出曲线 | 第44-45页 |
2.4 三电极外侧电压测试法的建立 | 第45-47页 |
2.4.1 三电极外侧电压测试法的实验方法和过程 | 第45-46页 |
2.4.2 纳米线肖特基势垒结构和电学传输的在位同步测量 | 第46-47页 |
2.5 三电极外侧电压测试法在分析纳米线肖特基势垒电阻开关机制中的应用 | 第47-51页 |
2.5.1 ZnO纳米线肖特基势垒的电阻开关特性 | 第47-48页 |
2.5.2 电阻开关器件的三电极外侧电压测试结果 | 第48-49页 |
2.5.3 器件开关过程对应的势垒结构分析 | 第49-50页 |
2.5.4 电阻开关器件中开关特性的微观机制 | 第50-51页 |
2.6 本章小结 | 第51-53页 |
第三章 四电极测量方法研究肖特基势垒结构和输运特性的关系 | 第53-71页 |
3.1 引言 | 第53页 |
3.2 三电极外侧电压测试法分析势垒结构的局限 | 第53-56页 |
3.2.1 势垒结构的模拟结果 | 第53-54页 |
3.2.2 三电极外侧电压测试法分析势垒结构的局限 | 第54-56页 |
3.3 三电极中间电压测试法分析势垒结构 | 第56-59页 |
3.3.1 三电极中间电压测试的测量原理 | 第56-57页 |
3.3.2 三电极中间电压测试法区分欧姆接触和势垒夹断 | 第57-58页 |
3.3.3 三电极中间电压测试分析势垒结构 | 第58-59页 |
3.4 四电极测量方法分析势垒结构 | 第59-61页 |
3.4.1 四电极测量方法的提出 | 第59页 |
3.4.2 四电极测量方法分析三种势垒结构 | 第59-60页 |
3.4.3 四电极测量方法分析欧姆接触的器件 | 第60-61页 |
3.5 四电极测量方法研究势垒结构与输运特性之间的关系 | 第61-69页 |
3.5.1 四电极测量方法分析势垒结构随电压的变化 | 第61-65页 |
3.5.2 部分耗尽的肖特基势垒结构转变成势垒夹断 | 第65-67页 |
3.5.3 肖特基势垒夹断所产生的电流饱和 | 第67-69页 |
3.6 本章小结 | 第69-71页 |
第四章 总结与展望 | 第71-73页 |
4.1 总结 | 第71-72页 |
4.2 展望 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-79页 |
攻读硕士学位期间完成的工作 | 第79-81页 |
致谢 | 第81-82页 |