忆阻器测试方法及其触发器应用研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-10页 |
| 1.2 国内外研究概况 | 第10-13页 |
| 1.3 论文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 2 忆阻器器件测试方法及其测试系统研究 | 第15-31页 |
| 2.1 忆阻器测试方法研究 | 第15-20页 |
| 2.2 忆阻器常规测试系统研制 | 第20-23页 |
| 2.3 忆阻器高速测试系统研制 | 第23-30页 |
| 2.4 小结 | 第30-31页 |
| 3 忆阻器测试方法及测试系统验证研究 | 第31-40页 |
| 3.1 待测忆阻器样品的工艺结构介绍 | 第31-32页 |
| 3.2 忆阻器电学特性测试 | 第32-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-40页 |
| 4 基于忆阻器 D 触发器电路设计 | 第40-52页 |
| 4.1 基于忆阻器的触发器电路应用 | 第40-41页 |
| 4.2 忆阻器的工作机理及其模型建立 | 第41-46页 |
| 4.3 基于忆阻器的 D 触发器电路设计 | 第46-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-52页 |
| 5 总结与展望 | 第52-54页 |
| 5.1 总结 | 第52-53页 |
| 5.2 展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 附录 攻读硕士学位期间学术成果 | 第58-59页 |
