摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-20页 |
1.1 前言 | 第11-12页 |
1.2 多像素光子计数器的概述 | 第12-15页 |
1.2.1 多像素光子计数器的介绍 | 第12-14页 |
1.2.2 多像素光子计数器的发展与应用 | 第14-15页 |
1.3 日盲紫外光电倍增管的概述 | 第15-18页 |
1.3.1 光电倍增管的介绍 | 第15-16页 |
1.3.2 光电倍增管的发展历史 | 第16-18页 |
1.3.3 日盲紫外光电倍增管 | 第18页 |
1.4 论文的研究内容和结构安排 | 第18-20页 |
1.4.1 主要研究内容 | 第18-19页 |
1.4.2 本文结构安排 | 第19-20页 |
第二章 MPPC模块的性能测试 | 第20-29页 |
2.1 MPPC模块的参数介绍 | 第20-21页 |
2.2 MPPC模块性能测试系统设计 | 第21-22页 |
2.3 数字化仪(DT)的刻度 | 第22-23页 |
2.4 MPPC模块的一致性调节 | 第23-25页 |
2.5 MPPC的长时间稳定性测试 | 第25-26页 |
2.6 MPPC模块的绝对增益 | 第26-28页 |
2.7 本章小结 | 第28-29页 |
第三章 位置灵敏探测器的性能研究 | 第29-40页 |
3.1 位置灵敏探测器的组成 | 第29-31页 |
3.1.1 荧光产生和收集部分 | 第29-30页 |
3.1.2 光电转化系统 | 第30-31页 |
3.1.3 后端电子学系统 | 第31页 |
3.1.4 数据采集系统 | 第31页 |
3.2 位置灵敏探测器模块的设计 | 第31-35页 |
3.2.1 探测器的组装 | 第31-33页 |
3.2.2 测试系统的设计 | 第33-35页 |
3.3 位置分辨的研究 | 第35-39页 |
3.3.1 噪声信号的分析 | 第35-36页 |
3.3.2 位置分辨的测试 | 第36-37页 |
3.3.3 探测器成像 | 第37-39页 |
3.4 本章小结 | 第39-40页 |
第四章 日盲PMT的性能测试 | 第40-51页 |
4.1 日盲光电倍增管的介绍 | 第40-42页 |
4.1.1 光电倍增管的相关参数介绍 | 第40页 |
4.1.2 PMT的分压电路介绍 | 第40-42页 |
4.2 UV-LED稳定性测试 | 第42-43页 |
4.3 单光电子谱测试 | 第43-47页 |
4.3.1 测试系统 | 第43-44页 |
4.3.2 PMT增益测试 | 第44-47页 |
4.4 阳极暗计数率 | 第47-48页 |
4.5 PMT的时间特性 | 第48-50页 |
4.6 本章小结 | 第50-51页 |
第五章 总结与展望 | 第51-54页 |
5.1 总结 | 第51-52页 |
5.1.1 关于位置灵敏探测器相关性能测试实验部分 | 第51页 |
5.1.2 关于日盲紫外光电倍增管性能测试部分 | 第51-52页 |
5.1.3 不足与改进 | 第52页 |
5.2 展望 | 第52-54页 |
5.2.1 位置灵敏探测器 | 第52页 |
5.2.2 日盲紫外光电倍增管 | 第52-54页 |
参考文献 | 第54-58页 |
致谢 | 第58-60页 |
攻读学位期间发表论文情况 | 第60页 |