GSM室内分布系统中无源器件导致的干扰研究与实践
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 概述 | 第9-11页 |
·课题背景 | 第9页 |
·研究意义 | 第9-10页 |
·主要研究成果 | 第10-11页 |
第二章 干扰分类、常用无源器件及指标 | 第11-20页 |
·GSM网络干扰 | 第11-14页 |
·内部产生的干扰 | 第11-13页 |
·外部产生的干扰 | 第13页 |
·互调产生的干扰 | 第13-14页 |
·常用无源器件简介 | 第14-16页 |
·电桥 | 第14-15页 |
·耦合器 | 第15页 |
·负载 | 第15页 |
·功分器 | 第15-16页 |
·无源器件指标 | 第16-20页 |
·互调抑制 | 第16-17页 |
·隔离度 | 第17-18页 |
·驻波 | 第18-19页 |
·功率容限 | 第19-20页 |
第三章 下行功率控制实验 | 第20-24页 |
·现网微蜂窝的干扰问题 | 第20-21页 |
·下行功率控制实验 | 第21-24页 |
第四章 单站测试 | 第24-28页 |
·测试站点 | 第24页 |
·电桥+负载测试 | 第24-25页 |
·直接负载测试 | 第25-26页 |
·电桥+负载+频谱仪测试 | 第26-28页 |
第五章 小规模实验室测试 | 第28-40页 |
·常规测试 | 第28-35页 |
·京信电桥 | 第28-31页 |
·国人电桥测试数据 | 第31-32页 |
·邦讯电桥 | 第32-33页 |
·常规指标测试结论 | 第33-35页 |
·功率容限测试 | 第35-40页 |
·测试方法 | 第35-36页 |
·测试数据与分析 | 第36页 |
·功率耐受性测试结论 | 第36-40页 |
第六章 泰尔实验室大规模测试 | 第40-48页 |
·电桥样品测试 | 第40-42页 |
·电桥隔离度测试 | 第40-41页 |
·电压驻波比测试 | 第41页 |
·电桥三阶互调抑制比测试 | 第41-42页 |
·电桥耐功率测试 | 第42页 |
·耦合器样品测试 | 第42-45页 |
·耦合器常规四项测试 | 第42-43页 |
·耦合器三阶互调抑制比测试 | 第43-44页 |
·耦合器耐功率测试 | 第44-45页 |
·负载样品测试 | 第45-48页 |
·负载电压驻波比测试 | 第45-46页 |
·负载三阶互调抑制测试 | 第46-47页 |
·负载功率耐受性测试 | 第47-48页 |
第七章 互调抑制与干扰实验分析 | 第48-55页 |
·实验目标及总体方案 | 第48-49页 |
·干扰波形测试 | 第49-51页 |
·干扰波形分析 | 第51-55页 |
·改变频谱间隔实验 | 第51-52页 |
·互调产物对比测试 | 第52-53页 |
·测试数据分析 | 第53-55页 |
第八章 成果应用 | 第55-59页 |
·鼎好大厦高温环境导致电桥互调指标恶化 | 第55-56页 |
·二功分临时应急替代电桥法 | 第56-57页 |
·地铁天安门东站收发分缆解决电桥互调干扰 | 第57-59页 |
第九章 结论 | 第59-61页 |
·总结 | 第59页 |
·下一步的工作 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-62页 |
致谢 | 第62页 |