纯铝在硫酸亚铁溶液中脉冲电解着色工艺及其性能研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 铝及铝合金表面着色技术 | 第11-15页 |
| 1.2.1 铝及铝合金表面着色技术概述 | 第11页 |
| 1.2.2 铝及其合金着色技术的分类 | 第11-15页 |
| 1.3 铝及铝合金的电解着色技术 | 第15-18页 |
| 1.3.1 铝及铝合金电解着色技术的发展 | 第15-16页 |
| 1.3.2 电解着色方法 | 第16-18页 |
| 1.4 电解着色机理 | 第18-20页 |
| 1.4.1 电解着色机理概述 | 第18页 |
| 1.4.2 电解着色的机理研究 | 第18-20页 |
| 1.5 电解着色电源的种类及特点 | 第20-22页 |
| 1.5.1 直流电解着色 | 第21页 |
| 1.5.2 交流电解着色 | 第21-22页 |
| 1.5.3 脉冲电解着色 | 第22页 |
| 1.6 课题研究的内容和意义 | 第22-24页 |
| 1.6.1 课题研究意义及目的 | 第22-23页 |
| 1.6.2 课题研究的内容 | 第23-24页 |
| 第2章 实验部分 | 第24-36页 |
| 2.1 实验装置 | 第24页 |
| 2.2 实验材料 | 第24-25页 |
| 2.3 实验仪器 | 第25页 |
| 2.4 数控脉冲电解着色原理 | 第25-30页 |
| 2.5 实验方法 | 第30-36页 |
| 2.5.1 试验工艺流程 | 第30-31页 |
| 2.5.2 表面预处理 | 第31页 |
| 2.5.3 阳极氧化试验 | 第31-32页 |
| 2.5.4 脉冲电解着色试验 | 第32-33页 |
| 2.5.5 封孔工艺 | 第33-34页 |
| 2.5.6 着色膜层的质量评定 | 第34页 |
| 2.5.7 着色膜层的物理检测 | 第34-35页 |
| 2.5.8 电化学测量 | 第35-36页 |
| 第3章 硫酸银溶液电解着色实验的结果与讨论 | 第36-51页 |
| 3.1 脉冲电源参数对电解着色的影响分析 | 第36-50页 |
| 3.1.1 正、反向电压对试样着色的影响 | 第36-40页 |
| 3.1.2 正、反占空比对试样着色的影响 | 第40-44页 |
| 3.1.3 单因素实验 | 第44-50页 |
| 3.2 小结 | 第50-51页 |
| 第4章 硫酸亚铁溶液电解着色实验的结果与讨论 | 第51-62页 |
| 4.1 最优工艺的确定 | 第51-61页 |
| 4.1.1 电解着色正向电压对着色膜的影响 | 第51-52页 |
| 4.1.2 电解着色反向电压对着色膜的影响 | 第52-53页 |
| 4.1.3 电解着色频率对着色膜的影响 | 第53-54页 |
| 4.1.4 电解着色总占空比对着色膜的影响 | 第54-55页 |
| 4.1.5 电解着色正占空比对着色膜的影响 | 第55-56页 |
| 4.1.6 电解着色反占空比对着色膜的影响 | 第56-57页 |
| 4.1.7 电解着色硫酸亚铁浓度对着色膜的影响 | 第57-58页 |
| 4.1.8 电解着色硫酸铵浓度对着色膜的影响 | 第58-59页 |
| 4.1.9 电解着色硼酸浓度对着色膜的影响 | 第59-60页 |
| 4.1.10 电解着色时间对着色膜的影响 | 第60-61页 |
| 4.2 小结 | 第61-62页 |
| 第5章 电解着色膜的性能检测 | 第62-72页 |
| 5.1 膜层的质量评定 | 第62-64页 |
| 5.1.1 膜层厚度分析 | 第62-63页 |
| 5.1.2 膜层耐磨性分析 | 第63页 |
| 5.1.3 膜层的热稳定性和热裂性分析 | 第63页 |
| 5.1.4 膜层的耐光性分析 | 第63-64页 |
| 5.2 膜层的物理检测 | 第64-69页 |
| 5.2.1 倒置式金相显微镜形貌观测 | 第64页 |
| 5.2.2 扫描电镜形貌（SEM）分析 | 第64-66页 |
| 5.2.3 膜层截面的能谱（EDS）分析 | 第66-67页 |
| 5.2.4 膜层XRD分析 | 第67-69页 |
| 5.3 膜层的电化学测量 | 第69-71页 |
| 5.3.1 极化曲线的测量 | 第69-70页 |
| 5.3.2 交流阻抗图谱的测量 | 第70-71页 |
| 5.4 本章小结 | 第71-72页 |
| 第6章 总结 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文和研究成果 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
