| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 研究内容和难点 | 第11-15页 |
| 1.2.1 研究内容 | 第11-13页 |
| 1.2.2 研究难点 | 第13-15页 |
| 1.3 本文主要贡献 | 第15-16页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第16-18页 |
| 第二章 相关技术介绍 | 第18-26页 |
| 2.1 软件缺陷分类(CLASSIFICATION)标准 | 第18-19页 |
| 2.1.1 Thayer软件错误分类方法 | 第18页 |
| 2.1.2 电气和电子工程师学会软件异常分类标准 | 第18页 |
| 2.1.3 缺陷正交分类ODC | 第18-19页 |
| 2.2 关联规则挖掘算法 | 第19-22页 |
| 2.2.1 Apriori算法 | 第19-20页 |
| 2.2.2 Fp-growth算法 | 第20-22页 |
| 2.3 聚类分析 | 第22-23页 |
| 2.3.1 K-means算法 | 第22-23页 |
| 2.3.2 K-medoids算法 | 第23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-26页 |
| 第三章 软件缺陷关联关系挖掘 | 第26-52页 |
| 3.1 软件缺陷预处理 | 第26-31页 |
| 3.1.1 缺陷数据来源与获取 | 第26页 |
| 3.1.2 软件缺陷分类(classification)标准 | 第26-27页 |
| 3.1.3 软件缺陷分类(classification)方法与工具 | 第27-30页 |
| 3.1.4 缺陷分类(classification)结果 | 第30-31页 |
| 3.2 缺陷关联关系分析 | 第31页 |
| 3.3 缺陷属性间关联关系挖掘 | 第31-40页 |
| 3.3.1 挖掘方法分析 | 第31-32页 |
| 3.3.2 构造事务列表 | 第32页 |
| 3.3.3 确定支持度 | 第32-36页 |
| 3.3.4 关联规则自信度的计算 | 第36-38页 |
| 3.3.5 缺陷属性间关联关系的分析 | 第38-40页 |
| 3.4 缺陷间关联关系挖掘 | 第40-51页 |
| 3.4.1 挖掘方法分析 | 第40-41页 |
| 3.4.2 对七元组进行聚类(clustering) | 第41页 |
| 3.4.3 缺陷聚类(clustering)结果分析 | 第41-44页 |
| 3.4.4 用“缺陷窗口”生成事务 | 第44页 |
| 3.4.5 用Fp-growth算法进行关联规则挖掘 | 第44-49页 |
| 3.4.6 缺陷间关联关系的分析 | 第49-51页 |
| 3.5 结论 | 第51页 |
| 3.6 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 软件缺陷关联关系在测试设计中的应用 | 第52-60页 |
| 4.1 软件测试分析 | 第52-53页 |
| 4.2 测试用例设计过程分析 | 第53-55页 |
| 4.3 软件缺陷关联关系与测试设计 | 第55-56页 |
| 4.4 软件缺陷关联关系在测试用例设计中的应用和举例 | 第56-59页 |
| 4.4.1 在测试用例设计类型中应用软件缺陷关联关系 | 第56-57页 |
| 4.4.2 在测试设计方法中应用软件缺陷关联关系 | 第57-59页 |
| 4.4.3 在测试用例评审中应用软件缺陷关联关系 | 第59页 |
| 4.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 结束语 | 第60-64页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第60-62页 |
| 5.2 问题与展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第70页 |
