摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-12页 |
1.1 课题背景及研究意义 | 第8页 |
1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
1.3 研究内容与组织结构 | 第10-12页 |
第2章 ΣΔ调制器概述 | 第12-26页 |
2.1 模数转换器的基本原理和性能参数 | 第12-16页 |
2.1.1 采样定理与频率混叠 | 第12-13页 |
2.1.2 量化噪声 | 第13-14页 |
2.1.3 模数转换器的性能参数 | 第14-15页 |
2.1.4 常见的模数转换器结构 | 第15-16页 |
2.2 ∑△调制器的基本原理 | 第16-19页 |
2.2.1 过采样原理 | 第16-17页 |
2.2.2 噪声整形原理 | 第17-18页 |
2.2.3 量化器和反馈DAC | 第18-19页 |
2.3 ∑△调制器的基本结构 | 第19-22页 |
2.3.1 2阶∑△调制器 | 第20-21页 |
2.3.2 高阶∑△调制器 | 第21-22页 |
2.3.3 ∑△调制器的稳定性 | 第22页 |
2.4 离散时间和连续时间∑△调制器 | 第22-24页 |
2.5 本章小结 | 第24-26页 |
第3章 连续时间∑△调制器的系统设计 | 第26-42页 |
3.1 拓扑结构和系统参数的选取 | 第26-27页 |
3.1.1 调制器结构的选取 | 第26页 |
3.1.2 系统参数的选取 | 第26-27页 |
3.2 ∑△调制器系统设计 | 第27-29页 |
3.3 离散时间连续时间(DT-CT)转换 | 第29-36页 |
3.3.1 脉冲不变转换 | 第29-31页 |
3.3.2 DAC反馈类型 | 第31-33页 |
3.3.3 DT-CT转换 | 第33-36页 |
3.4 系统非理想特性 | 第36-41页 |
3.4.1 运算放大器的非理想特性对调制器性能的影响 | 第37-39页 |
3.4.2 积分器增益误差对调制器性能的影响 | 第39-40页 |
3.4.3 过量环路延时对调制器性能的影响 | 第40-41页 |
3.5 本章小结 | 第41-42页 |
第4章 连续时间Σ△调制器的电路设计 | 第42-54页 |
4.1 调制器系统电路结构 | 第42页 |
4.2 积分器电路设计 | 第42-49页 |
4.3 量化器电路设计 | 第49-51页 |
4.4 反馈DAC电路设计 | 第51页 |
4.5 连续时间∑△调制器前仿真 | 第51-52页 |
4.6 本章小结 | 第52-54页 |
第5章 连续时间∑△调制器的版图设计 | 第54-68页 |
5.1 版图设计规则 | 第54-56页 |
5.2 调制器各模块版图 | 第56-60页 |
5.3 连续时间∑△调制器后仿真 | 第60-61页 |
5.4 连续时间∑△调制器初步测试 | 第61-66页 |
5.4.1 测试系统 | 第61页 |
5.4.2 测试板设计 | 第61-63页 |
5.4.3 初步测试结果 | 第63-66页 |
5.5 本章小结 | 第66-68页 |
第6章 总结与展望 | 第68-70页 |
6.1 工作总结 | 第68-69页 |
6.2 工作展望 | 第69-70页 |
致谢 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-74页 |