| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 选题背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 静态累积和控制图研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 动态累积和控制图研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 主要研究内容与框架 | 第15-16页 |
| 第2章 CUSUM控制图的基本原理与参数选取 | 第16-36页 |
| 2.1 CUSUM控制图的基本原理 | 第16-24页 |
| 2.1.1 FSI CUSUM控制图的基本原理 | 第16-21页 |
| 2.1.2 VSI CUSUM控制图的基本原理 | 第21-24页 |
| 2.2 CUSUM控制图在低不合格率过程下的参数选取 | 第24-30页 |
| 2.2.1 低不合格率过程下的参数设置 | 第24-28页 |
| 2.2.2 平均运行长度的计算 | 第28-29页 |
| 2.2.3 数值示例 | 第29-30页 |
| 2.3 CUSUM控制图在自相关过程下的参数选取 | 第30-36页 |
| 2.3.1 自相关过程的识别与消除 | 第31-33页 |
| 2.3.2 参数选取过程 | 第33-34页 |
| 2.3.3 自相关累积和控制图的实施步骤 | 第34-36页 |
| 第3章 VSI CUSUM控制图的参数选取与设计过程 | 第36-44页 |
| 3.1 低不合格率过程下的参数选取 | 第36-41页 |
| 3.1.1 VSI CUSUM控制图的建立与参数选取 | 第36-38页 |
| 3.1.2 平均报警时间的求解步骤 | 第38-40页 |
| 3.1.3 低不合格率过程下的运行流程图 | 第40-41页 |
| 3.2 自相关过程下的参数选取 | 第41-44页 |
| 3.2.1 VSI CUSUM控制图的建立与参数的选取 | 第41-42页 |
| 3.2.2 平均报警时间的计算 | 第42-43页 |
| 3.2.3 平均报警时间算法实现的流程图 | 第43-44页 |
| 第4章 FSI CUSUM控制图与VSI CUSUM控制图的性能比较 | 第44-59页 |
| 4.1 低不合格率过程下的性能比较 | 第44-55页 |
| 4.1.1 平均抽样区间d=2 时的性能比较 | 第46-50页 |
| 4.1.2 平均抽样区间d=3 时的性能比较 | 第50-54页 |
| 4.1.3 分析结果 | 第54-55页 |
| 4.2 自相关过程下的性能比较 | 第55-59页 |
| 4.2.1 自相关系数φ > 0时的性能比较 | 第55-58页 |
| 4.2.2 分析结果 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
