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基于线性扩散板的高光抑制方法研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-18页
    1.1 研究的目的和意义第10-11页
    1.2 高光抑制方法国内外研究现状第11-16页
        1.2.1 高光抑制软件方法研究现状第11-13页
        1.2.2 高光抑制硬件方法研究现状第13-16页
    1.3 论文主要研究内容第16-18页
第2章 强反射表面编码光测量系统的设计第18-31页
    2.1 结构光三维测量系统第18-22页
    2.2 强反射表面编码光测量系统的设计第22-26页
        2.2.1 基于扩散板的实验平台设计第22-24页
        2.2.2 编码光的选取第24-26页
    2.3 强反射表面编码光测量系统的标定第26-30页
        2.3.1 摄像机的标定第26-28页
        2.3.2 投影仪的标定第28-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第3章 基于辐射度的扩散板抑制高光原理模型建立第31-43页
    3.1 辐照度和辐射度的相关定义第31-33页
    3.2 双向反射分布函数BRDF第33-35页
    3.3 强反射表面测量系统中扩散板的选取第35-38页
    3.4 线性扩散板抑制高光原理第38-42页
    3.5 本章小结第42-43页
第4章 高光抑制实验结果与分析第43-52页
    4.1 强反射表面物体高光抑制实验第43-49页
        4.1.1 大理石罐高光抑制实验及结果分析第43-45页
        4.1.2 陶瓷杯高光抑制实验及结果分析第45-47页
        4.1.3 陶瓷盘高光抑制实验及结果分析第47-49页
    4.2 三组实验数据定量分析第49-51页
    4.3 本章小结第51-52页
结论第52-53页
参考文献第53-57页
攻读学位期间发表的学术论文第57-58页
致谢第58页

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