体源样品γ射线自吸收校正技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·研究现状 | 第9-11页 |
| ·课题来源及主要研究内容 | 第11-12页 |
| ·论文研究成果 | 第12-14页 |
| 2 基本原理 | 第14-24页 |
| ·γ 射线与物质的相互作用 | 第14-19页 |
| ·光电效应 | 第14-16页 |
| ·康普顿效应 | 第16-17页 |
| ·电子对效应 | 第17-18页 |
| ·其他相互作用 | 第18-19页 |
| ·γ 射线在物质中的衰减规律 | 第19-20页 |
| ·分层 γ 扫描技术及装置 | 第20-23页 |
| ·分层 γ 扫描装置 | 第20-22页 |
| ·透射 γ 扫描 | 第22页 |
| ·发射 γ 扫描 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 3 蒙卡模拟确定HPGe探测器尺寸参数 | 第24-35页 |
| ·蒙卡思想简介 | 第24页 |
| ·MCNP程序 | 第24-25页 |
| ·HPGe探测器尺寸参数确定 | 第25-34页 |
| ·厂家提供参数 | 第26-29页 |
| ·参数实验校正 | 第29-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 4 均匀体源样品 γ 自吸收校正的MC模拟研究 | 第35-47页 |
| ·蒙卡模拟 | 第35-43页 |
| ·模型参数 | 第35-39页 |
| ·透射测量 | 第39-41页 |
| ·发射测量 | 第41-43页 |
| ·实验验证与误差分析 | 第43-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 5 密度非均匀性对 γ 自吸收校正的影响研究 | 第47-61页 |
| ·体源样品及测量过程 | 第47-51页 |
| ·样品 γ 射线线衰减系数 | 第51-53页 |
| ·60Co源单逃逸峰对13 7Cs源的影响校正 | 第53-57页 |
| ·自吸收校正结果与分析 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 6 发射源位置偏移对 γ 自吸收校正的影响研究 | 第61-67页 |
| ·体源样品及测量过程 | 第61-62页 |
| ·样品 γ 射线线衰减系数 | 第62-64页 |
| ·自吸收校正结果与分析 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及研究成果 | 第74页 |
