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嵌入式软件缺陷检测的测试用例生成与排序研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
第1章 绪论第10-14页
   ·研究背景和意义第10-11页
     ·研究背景第10-11页
     ·研究意义第11页
   ·国内外研究现状第11-12页
   ·论文研究内容第12-13页
   ·论文章节安排第13-14页
第2章 相关理论知识与技术介绍第14-25页
   ·自动化测试基础第14-18页
     ·软件自动化测试的定义第14页
     ·自动化测试的发展第14-15页
     ·自动化测试的流程第15-17页
     ·自动化测试的优势和局限性第17-18页
   ·嵌入式软件测试技术第18-22页
     ·嵌入式软件测试方法第18-20页
     ·嵌入式软件测试环境第20-22页
   ·嵌入式软件测试自动化第22-23页
   ·本章小结第23-25页
第3章 面向二进制代码的测试用例自动生成技术第25-40页
   ·概述第25-31页
     ·Valgrind第26-28页
     ·STP第28-31页
   ·面向路径覆盖的动态测试用例生成第31-38页
     ·测试用例生成算法第31-32页
     ·基于代码插桩的路径约束收集工具第32-34页
     ·路径约束求解与测试用例生成第34-36页
     ·测试用例生成实验结果第36-38页
   ·本章小结第38-40页
第4章 面向二进制代码的测试用例优先排序技术第40-51页
   ·概述第40-42页
     ·TCR 技术第40页
     ·TCP 技术第40页
     ·测试用例优先排序方法第40-42页
   ·基于依赖结构的 TCP 方法第42-50页
     ·相关概念第42-43页
     ·TCP 算法第43-47页
     ·测试用例排序实验结果第47-50页
   ·本章小结第50-51页
第5章 基于测试用例自动生成与优先排序的缺陷检测平台第51-56页
   ·系统开发环境第51页
   ·系统需求分析第51-52页
   ·系统设计和架构第52-54页
     ·系统模块划分和架构第52-53页
     ·系统工作方式第53-54页
   ·测试用例的执行和结果分析第54-55页
     ·实验设计第54页
     ·结果分析第54-55页
   ·本章小结第55-56页
第6章 总结与展望第56-58页
   ·总结第56-57页
   ·展望第57-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-62页
附录第62-63页
详细摘要第63-65页

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