| 致谢 | 第1-8页 |
| 摘要 | 第8-11页 |
| ABSTRACT | 第11-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-29页 |
| ·空间环境及基本辐射效应 | 第17-22页 |
| ·空间辐射环境 | 第17-20页 |
| ·器件主要辐射效应 | 第20-22页 |
| ·单粒子效应相关研究及存在问题 | 第22-25页 |
| ·单粒子效应相关研究 | 第22-24页 |
| ·存在问题 | 第24-25页 |
| ·本文研究工作及结构 | 第25-29页 |
| ·研究对象及主要研究内容 | 第25-26页 |
| ·本文的逻辑结构 | 第26-29页 |
| 第二章 理论与计算方法简介 | 第29-37页 |
| ·单粒子效应理论与计算方法概况 | 第29-32页 |
| ·国外理论与计算方法研究状况 | 第29-31页 |
| ·国内理论与计算方法研究状况 | 第31-32页 |
| ·单粒子效应计算机模拟构造 | 第32-37页 |
| ·粒子与器件相互作用中电荷收集过程 | 第32-33页 |
| ·离子入射器件后径迹径向特性 | 第33页 |
| ·重离子在器件中的时间及脉冲特性研究 | 第33-34页 |
| ·质子诱发的单粒子翻转效应 | 第34-37页 |
| 第三章 器件特性对单粒子效应的影响研究 | 第37-53页 |
| ·灵敏单元尺寸对经典 RPP 模型的影响 | 第37-44页 |
| ·空间辐射环境 | 第37-38页 |
| ·RPP 计算模型 | 第38-40页 |
| ·单粒子翻转率模型优化 | 第40-41页 |
| ·计算结果及分析 | 第41-43页 |
| ·结论 | 第43-44页 |
| ·器件特性与能量沉积及影响因素的关系 | 第44-53页 |
| ·计算模型建立 | 第44-46页 |
| ·结果 | 第46-49页 |
| ·讨论 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-53页 |
| 第四章 粒子特性对单粒子效应的影响研究 | 第53-79页 |
| ·倾角下单粒子效应的多位翻转特性 | 第53-63页 |
| ·几何模型和重离子辐照 | 第53-55页 |
| ·SEU/MBU 敏感性的影响因子研究 | 第55-62页 |
| ·讨论 | 第62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| ·LET 参量对单粒子单位翻转效应的影响 | 第63-71页 |
| ·SRAM 单元几何模拟 | 第63-64页 |
| ·重离子辐照模拟 | 第64-66页 |
| ·结果与讨论 | 第66-71页 |
| ·小结 | 第71页 |
| ·LET 参量对单粒子多位翻转效应的影响 | 第71-79页 |
| ·重离子辐照 | 第71-74页 |
| ·结果与讨论 | 第74-78页 |
| ·小结 | 第78-79页 |
| 第五章 质子诱发单粒子效应的敏感性研究 | 第79-93页 |
| ·质子、重离子引起单粒子效应机制异同性 | 第79-81页 |
| ·基于在轨翻转率模型的质子、重离子等效性 | 第81-84页 |
| ·FOM 预估方法 | 第82页 |
| ·等效模型下的积分公式 | 第82-84页 |
| ·低能质子直接电离效应 | 第84-93页 |
| ·低能质子研究必要性 | 第84-85页 |
| ·计算结果 | 第85-88页 |
| ·讨论 | 第88-91页 |
| ·小结 | 第91-93页 |
| 第六章 适用于单粒子效应微观机理分析的技术方法研究 | 第93-103页 |
| ·技术方法计算模型与验证 | 第93-95页 |
| ·辐照参量与器件结构 | 第93-94页 |
| ·模型准确性验证 | 第94-95页 |
| ·适用于微观机理分析的技术方法 | 第95-103页 |
| ·能量离散特性 | 第96-97页 |
| ·离子径迹径向特性 | 第97-98页 |
| ·粒子入射瞬态特性 | 第98-100页 |
| ·边缘效应误差分析计算 | 第100页 |
| ·小结 | 第100-103页 |
| 第七章 结论与展望 | 第103-109页 |
| ·总结 | 第103-107页 |
| ·工作进展及结论 | 第103-105页 |
| ·研究成果简述 | 第105-107页 |
| ·展望 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-119页 |
| 作者简介及发表文章 | 第119-122页 |