基于γ能谱的注量测量与分析
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题的研究目的和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·本文工作 | 第12-15页 |
| 第2章 理论基础和实验测量 | 第15-33页 |
| ·γ射线与物质之间的相互作用 | 第15-18页 |
| ·光电效应 | 第15-16页 |
| ·康普顿效应 | 第16页 |
| ·电子对效应 | 第16-18页 |
| ·γ能谱测量的一般考虑 | 第18-21页 |
| ·NaI（Tl）单晶γ闪烁谱仪 | 第18-19页 |
| ·能量分辨率 | 第19-20页 |
| ·探测效率 | 第20-21页 |
| ·γ能谱的实验测量 | 第21-27页 |
| ·能量刻度 | 第22-24页 |
| ·探测效率测量 | 第24-27页 |
| ·对环境样品的γ能谱测量和分析 | 第27-31页 |
| ·环境样品γ能谱的测量 | 第27-29页 |
| ·样品中γ放射性综合分析 | 第29-31页 |
| ·小结 | 第31-33页 |
| 第3章 γ能谱的谱形特点与模拟 | 第33-45页 |
| ·γ能谱的谱形及影响因素 | 第33-35页 |
| ·全能峰 | 第33页 |
| ·康普顿散射坪 | 第33-34页 |
| ·反散射峰 | 第34页 |
| ·和峰效应 | 第34页 |
| ·特征 X 射线 | 第34-35页 |
| ·逃逸峰 | 第35页 |
| ·蒙特卡罗的模拟方法 | 第35-38页 |
| ·蒙特卡罗方法的发展 | 第36页 |
| ·蒙特卡罗方法的基本思想 | 第36-37页 |
| ·蒙特卡罗方法的特点 | 第37-38页 |
| ·用蒙特卡罗方法建立模型 | 第38-42页 |
| ·NaI（Tl）探测器模型的建立 | 第38-41页 |
| ·高斯展宽系数和模型的可信性 | 第41-42页 |
| ·实验测量与程序模拟能谱的比较 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-45页 |
| 第4章 γ能谱的分析 | 第45-59页 |
| ·解谱方法 | 第45-47页 |
| ·全能峰面积法 | 第45-46页 |
| ·矩阵反卷法 | 第46-47页 |
| ·建立响应矩阵 | 第47-52页 |
| ·能量刻度系统及能道修正 | 第48-49页 |
| ·模拟得到的响应函数 | 第49-50页 |
| ·插值得到响应矩阵 | 第50-52页 |
| ·能谱的分析 | 第52-57页 |
| ·对能谱的解谱 | 第52页 |
| ·对能谱的分析结果 | 第52-57页 |
| ·小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
