| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·选题背景及研究意义 | 第10-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-13页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 GIS绝缘缺陷ARMA与多项式识别方法原理 | 第14-26页 |
| ·GIS主要缺陷类型 | 第14-16页 |
| ·基于ARMA的GIS绝缘缺陷识别方法原理 | 第16-24页 |
| ·时间序列分析方法 | 第17-18页 |
| ·ARMA模型及特征 | 第18-21页 |
| ·ARMA模型预测 | 第21-24页 |
| ·基于ARMA的识别方法原理 | 第24页 |
| ·基于多项式拟合的诊断方法原理 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 基于ARMA的GIS绝缘缺陷识别方法研究 | 第26-78页 |
| ·GIS设备典型缺陷放电发展的研究平台 | 第26-30页 |
| ·研究平台的构成 | 第26-28页 |
| ·试验回路 | 第28-29页 |
| ·试验方法 | 第29-30页 |
| ·GIS设备典型缺陷ARMA模型的建立 | 第30-74页 |
| ·绝缘子表面固定金属颗粒ARMA模型的建立 | 第31-40页 |
| ·绝缘子表面自由金属颗粒ARMA模型的建立 | 第40-50页 |
| ·绝缘子表面外壳金属尖刺ARMA模型的建立 | 第50-59页 |
| ·绝缘子表面高压电极故障ARMA模型的建立 | 第59-67页 |
| ·高压导体接触不良ARMA模型的建立 | 第67-74页 |
| ·基于ARMA的识别方法验证 | 第74-76页 |
| ·本章小结 | 第76-78页 |
| 第4章 基于多项式拟合的GIS绝缘缺陷诊断方法研究 | 第78-88页 |
| ·基于多项式拟合参数的GIS绝缘缺陷诊断方法 | 第78-86页 |
| ·自由金属颗粒缺陷 | 第78-82页 |
| ·固定金属颗粒缺陷 | 第82-86页 |
| ·基于多项式拟合的诊断方法验证 | 第86-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 第5章 结论与展望 | 第88-90页 |
| ·结论 | 第88页 |
| ·展望 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-95页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第95-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 作者简介 | 第97页 |