| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-26页 |
| ·课题背景及意义 | 第16-18页 |
| ·中间接头局部放电测量方法的研究现状 | 第18-23页 |
| ·脉冲电流法 | 第18-19页 |
| ·振荡波测试方法 | 第19-20页 |
| ·高频电流法 | 第20-21页 |
| ·UHF法 | 第21-22页 |
| ·内置式电容耦合法 | 第22-23页 |
| ·高聚物介质绝缘状态评估的研究现状 | 第23-24页 |
| ·目前研究存在的问题 | 第24-25页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第25-26页 |
| 第2章 实验研究平台及数据分析方法 | 第26-52页 |
| ·35kV电缆中间接头局部放电实验平台 | 第26-41页 |
| ·电缆试品 | 第27-31页 |
| ·加压系统 | 第31页 |
| ·局部放电测量系统 | 第31-40页 |
| ·加压方法 | 第40-41页 |
| ·局部放电数据分析方法 | 第41-45页 |
| ·表征参量趋势图 | 第41-42页 |
| ·相位特征谱图 | 第42-45页 |
| ·实验平台的功能验证 | 第45-50页 |
| ·局部放电测量灵敏度标定 | 第45-46页 |
| ·缺陷局部放电信号的对比实测 | 第46-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第3章 硅橡胶中电树枝和局部放电发展的关系研究 | 第52-69页 |
| ·实验系统 | 第52-54页 |
| ·试品制备 | 第54页 |
| ·加压方法 | 第54页 |
| ·实验过程分析 | 第54-58页 |
| ·局部放电的发展趋势 | 第55页 |
| ·电树枝的发展趋势 | 第55-58页 |
| ·破坏现象 | 第58页 |
| ·局部放电及电树枝的发展过程 | 第58-66页 |
| ·第1阶段局部放电特征及电树枝形态 | 第58-60页 |
| ·第2阶段局部放电特征及电树枝形态 | 第60-62页 |
| ·第3阶段局部放电特征及电树枝形态 | 第62-63页 |
| ·第4阶段局部放电特征及电树枝形态 | 第63-64页 |
| ·第5阶段局部放电特征及电树枝形态 | 第64-66页 |
| ·电树枝发展过程中主要物理现象解释 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 第4章 接头屏蔽层尖刺缺陷局部放电的发展过程 | 第69-84页 |
| ·模拟缺陷 | 第69页 |
| ·加压方法 | 第69-70页 |
| ·实验过程分析 | 第70-72页 |
| ·局部放电的发展趋势 | 第70-71页 |
| ·破坏现象 | 第71-72页 |
| ·局部放电统计特征分析 | 第72-77页 |
| ·第1阶段 | 第72-73页 |
| ·第2阶段 | 第73-74页 |
| ·第3阶段 | 第74页 |
| ·第4阶段 | 第74-75页 |
| ·第5阶段 | 第75-77页 |
| ·局部放电特征量的提取 | 第77-82页 |
| ·局部放电相位宽度 | 第77-78页 |
| ·灰度图空穴特征 | 第78-81页 |
| ·局部放电能量的增长率 | 第81-82页 |
| ·局部放电严重程度的评估方法 | 第82页 |
| ·本章小结 | 第82-84页 |
| 第5章 接头微孔缺陷局部放电的发展过程 | 第84-96页 |
| ·模拟缺陷 | 第84页 |
| ·加压方法 | 第84-85页 |
| ·实验过程分析 | 第85-87页 |
| ·局部放电的发展趋势 | 第85-86页 |
| ·实验现象 | 第86-87页 |
| ·局部放电统计特征分析 | 第87-91页 |
| ·第1阶段 | 第87-88页 |
| ·第2阶段 | 第88-89页 |
| ·第3阶段 | 第89-90页 |
| ·第4阶段 | 第90-91页 |
| ·局部放电特征量的提取 | 第91-94页 |
| ·局部放电相位宽度 | 第92页 |
| ·φ-qave谱图偏斜度 | 第92-93页 |
| ·参量趋势图波动系数 | 第93-94页 |
| ·局部放电严重程度的评估方法 | 第94-95页 |
| ·本章小结 | 第95-96页 |
| 第6章 接头沿面金属颗粒缺陷局部放电的发展过程 | 第96-109页 |
| ·模拟缺陷 | 第96-97页 |
| ·加压方法 | 第97页 |
| ·实验结果分析 | 第97-101页 |
| ·实验现象 | 第97页 |
| ·局部放电的发展趋势 | 第97-99页 |
| ·破坏现象 | 第99-101页 |
| ·局部放电统计特征分析 | 第101-105页 |
| ·第1阶段 | 第101-102页 |
| ·第2阶段 | 第102-103页 |
| ·第3阶段 | 第103-104页 |
| ·第4阶段 | 第104-105页 |
| ·局部放电特征量的提取 | 第105-107页 |
| ·局部放电相位宽度 | 第105-106页 |
| ·局部放电特征谱图正、负半周轮廓的互相关系数 | 第106-107页 |
| ·局部放电严重程度的评估方法 | 第107-108页 |
| ·本章小结 | 第108-109页 |
| 第7章 接头沿面尖刺缺陷局部放电的发展过程 | 第109-118页 |
| ·模拟缺陷 | 第109-110页 |
| ·加压方法 | 第110页 |
| ·实验过程分析 | 第110-111页 |
| ·局部放电的发展趋势 | 第110-111页 |
| ·实验现象 | 第111页 |
| ·局部放电统计特征分析 | 第111-114页 |
| ·第1阶段 | 第111-112页 |
| ·第2阶段 | 第112-113页 |
| ·第3阶段 | 第113-114页 |
| ·局部放电特征量的提取 | 第114-116页 |
| ·局部放电相位宽度 | 第115页 |
| ·灰度图正、负半周轮廓的互相关系数cc | 第115-116页 |
| ·φ-n和φ-qave谱图负半周轮廓的陡峭度Ku~- | 第116页 |
| ·局部放电严重程度的评估方法 | 第116-117页 |
| ·本章小结 | 第117-118页 |
| 第8章 结论与展望 | 第118-120页 |
| ·结论 | 第118-119页 |
| ·今后的工作展望 | 第119-120页 |
| 参考文献 | 第120-128页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及成果 | 第128-130页 |
| 攻读博士学位期间参加的科研工作 | 第130-131页 |
| 致谢 | 第131-132页 |
| 作者简介 | 第132页 |