| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-13页 |
| 1. 绪论 | 第13-24页 |
| ·引言 | 第13-14页 |
| ·有机电致发光器件的基本结构 | 第14-16页 |
| ·有机电致发光器件的发光机理 | 第16-17页 |
| ·有机电致发光器件的材料 | 第17-18页 |
| ·电极材料 | 第17-18页 |
| ·载流子传输材料 | 第18页 |
| ·发光材料 | 第18页 |
| ·评价有机电致发光器件性能的主要参数 | 第18-19页 |
| ·发光效率 | 第18-19页 |
| ·寿命 | 第19页 |
| ·有机电致发光器件的老化 | 第19-20页 |
| ·有机电致发光器件的封装 | 第20-22页 |
| ·传统盖板式封装 | 第20-21页 |
| ·薄膜封装 | 第21-22页 |
| ·本课题研究的主要内容和创新点 | 第22-24页 |
| ·主要内容 | 第22-23页 |
| ·创新点 | 第23-24页 |
| 2. 封装薄膜的制备 | 第24-33页 |
| ·前言 | 第24页 |
| ·实验仪器设备与材料 | 第24-25页 |
| ·实验仪器与设备 | 第24页 |
| ·测试仪器与设备 | 第24-25页 |
| ·实验原料的选择 | 第25页 |
| ·实验工艺流程 | 第25-26页 |
| ·实验过程 | 第26-28页 |
| ·封装薄膜结构 | 第26页 |
| ·实验方案的设计 | 第26-27页 |
| ·实验步骤 | 第27-28页 |
| ·性能测试 | 第28-33页 |
| ·X 射线衍射仪（XRD）分析 | 第28-29页 |
| ·原子力显微镜（AFM）分析 | 第29页 |
| ·薄膜透过率测试 | 第29-30页 |
| ·电阻变化率测试 | 第30-31页 |
| ·Ca 薄膜降解测试 | 第31页 |
| ·薄膜厚度测试 | 第31-33页 |
| 3. 封装薄膜的性能分析与讨论 | 第33-42页 |
| ·薄膜的 XRD 分析 | 第33页 |
| ·薄膜的 AFM 分析 | 第33-35页 |
| ·薄膜的绝缘性能 | 第35-36页 |
| ·薄膜的透光率 | 第36-37页 |
| ·薄膜的水氧阻隔性能 | 第37-39页 |
| ·未封装与封装 MgF_2薄膜对水氧阻隔性能的影响 | 第37页 |
| ·MgF_2薄膜不同厚度对水氧阻隔性能的影响 | 第37-38页 |
| ·不同薄膜对水氧阻隔性能的影响 | 第38-39页 |
| ·Ca 膜降解测试 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 4. 薄膜封装 OLED 器件的制备及性能分析与讨论 | 第42-51页 |
| ·前言 | 第42页 |
| ·实验仪器和实验原料 | 第42-43页 |
| ·实验仪器与设备 | 第42页 |
| ·测试仪器与设备 | 第42页 |
| ·实验原料 | 第42-43页 |
| ·实验工艺流程 | 第43-44页 |
| ·实验过程 | 第44-45页 |
| ·性能测试 | 第45-46页 |
| ·器件的光电性能测试 | 第45页 |
| ·器件的电致发光光谱测试 | 第45-46页 |
| ·器件的寿命测试 | 第46页 |
| ·性能分析与讨论 | 第46-50页 |
| ·封装层对器件电流密度-电压特性的影响 | 第46-47页 |
| ·封装层对器件发光特性的影响 | 第47-48页 |
| ·封装层对器件电致发光光谱的影响 | 第48-49页 |
| ·封装层对器件寿命的影响 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 5. 结论与展望 | 第51-53页 |
| ·结论 | 第51-52页 |
| ·展望 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-60页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第60-61页 |