| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| ·课题背景 | 第9-12页 |
| ·高可靠电子元器件的可靠性概况 | 第9-10页 |
| ·国内外宇航元器件可靠性保障体系现状 | 第10-11页 |
| ·高可靠GaAs MMIC的可靠性研究 | 第11-12页 |
| ·可靠性快速评价技术研究状况 | 第12-16页 |
| ·微电子器件可靠性评价存在的问题 | 第12-14页 |
| ·可靠性快速评价技术的提出 | 第14-15页 |
| ·国内外可靠性快速评价技术 | 第15-16页 |
| ·课题意义及研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 极限评估技术基础理论研究 | 第18-29页 |
| ·极限评估技术的概念 | 第18-25页 |
| ·极限评估技术的提出 | 第18-20页 |
| ·极限评估概念研究 | 第20-22页 |
| ·极限评估技术机理 | 第22-25页 |
| ·极限评估技术基础理论与模型研究 | 第25-29页 |
| ·微电子器件极限评估技术相关理论与模型 | 第25-27页 |
| ·理论适用性分析 | 第27-29页 |
| 第三章 微波功放芯片的极限评估试验技术研究 | 第29-50页 |
| ·微波功放芯片的极限评估应力类型研究 | 第29-34页 |
| ·应力类型与诱发故障模式关系 | 第29-31页 |
| ·微波功放芯片的敏感应力分析 | 第31-33页 |
| ·微波功放芯片常见故障模式研究 | 第33-34页 |
| ·微波功放芯片的敏感参数分析 | 第34-39页 |
| ·元器件敏感参数的分析方法 | 第34-35页 |
| ·微波功放芯片的敏感参数分析 | 第35-39页 |
| ·微波功放芯片极限评估试验项目研究 | 第39-44页 |
| ·试验应力的施加方式 | 第39-41页 |
| ·极限评估试验项目类别 | 第41-43页 |
| ·微波功放芯片的极限评估试验项目设计 | 第43-44页 |
| ·极限评估试验条件研究 | 第44-50页 |
| ·极限评估试验剖面研究 | 第44-48页 |
| ·可参照标准的极限评估试验条件研究 | 第48-50页 |
| 第四章 GaAs MMIC功率放大器芯片的极限评估试验设计与实施 | 第50-62页 |
| ·GaAs MMIC功率放大器芯片极限评估试验的方案设计 | 第50-54页 |
| ·GaAs MMIC功率放大器芯片试验样品的选择 | 第50-51页 |
| ·GaAs MMIC功放芯片极限评估试验项目的选择 | 第51-52页 |
| ·GaAs MMIC功放芯片极限评估试验条件与方法设计 | 第52-54页 |
| ·GaAs MMIC功放芯片极限判别准则的确定 | 第54-55页 |
| ·GaAs MMIC功放芯片极限评估试验测试平台 | 第55-57页 |
| ·试验测试设备 | 第55-56页 |
| ·应力施加设备 | 第56-57页 |
| ·试验器件的编号与试验顺序 | 第57-59页 |
| ·极限评估试验项目进行顺序 | 第57-58页 |
| ·试验器件的分组与编号 | 第58-59页 |
| ·试验注意事项 | 第59页 |
| ·试验数据测试过程 | 第59-62页 |
| ·温度步进试验测试 | 第59-60页 |
| ·温度冲击试验测试 | 第60页 |
| ·电压步进试验测试 | 第60-62页 |
| 第五章 GaAs MMIC功放芯片极限评估试验结果分析与能力评价 | 第62-81页 |
| ·GaAs MMIC功放芯片温度步进试验结果与分析 | 第62-66页 |
| ·低温步进试验结果与分析 | 第62-64页 |
| ·高温步进试验结果与分析 | 第64-66页 |
| ·GaAs MMIC功放芯片温度冲击试验结果与分析 | 第66-67页 |
| ·GaAs MMIC功放芯片电压步进试验结果与分析 | 第67-74页 |
| ·低压试验结果与分析 | 第67-71页 |
| ·升压破坏性试验结果与分析 | 第71-74页 |
| ·极限能力评价与失效分析 | 第74-79页 |
| ·件的极限能力评价 | 第74-77页 |
| ·器件的失效分析 | 第77-79页 |
| ·试验结论 | 第79-81页 |
| 第六章 结论 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第87页 |
