| 作者简介 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-25页 |
| §1.1 研究背景 | 第11-14页 |
| §1.2 研究现状 | 第14-22页 |
| ·边信道攻击的研究现状 | 第14-20页 |
| ·边信道防御的研究现状 | 第20-22页 |
| §1.3 内容安排及主要研究结果 | 第22-25页 |
| 第二章 边信道攻击的基础知识 | 第25-37页 |
| §2.1 边信道攻击的基本原理 | 第25-29页 |
| ·边信息泄漏模型 | 第25-27页 |
| ·攻击基本原理 | 第27-29页 |
| §2.2 集成电路的功耗及电磁辐射 | 第29-32页 |
| ·功耗模型 | 第29-32页 |
| ·电磁辐射 | 第32页 |
| §2.3 差分电磁分析攻击 | 第32-34页 |
| §2.4 故障分析攻击 | 第34-35页 |
| §2.5 本章小结 | 第35-37页 |
| 第三章 PRESENT密码算法的双差分电磁攻击及其防御措施 | 第37-55页 |
| §3.1 PRESENT密码算法 | 第37-39页 |
| §3.2 双差分电磁攻击基础 | 第39-46页 |
| ·电磁辐射模型 | 第39页 |
| ·分组密码的差分电磁攻击 | 第39-41页 |
| ·双差分电磁攻击的原理分析 | 第41-46页 |
| §3.3 攻击的软件及硬件配置 | 第46-48页 |
| §3.4 攻击结果分析 | 第48-50页 |
| §3.5 电磁分析攻击的防御措施 | 第50-54页 |
| §3.6 本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 分组密码算法的故障－电磁攻击及其防御措施 | 第55-67页 |
| §4.1 分组密码结构特点及其故障攻击分析 | 第55-58页 |
| ·Feistel结构 DES密码算法 | 第56页 |
| ·SPN结构的 AES密码算法 | 第56-57页 |
| ·分组密码的故障攻击分析 | 第57-58页 |
| §4.2 PRESENT密码算法的故障－电磁攻击分析 | 第58-61页 |
| ·PRESENT密码算法描述 | 第58-61页 |
| ·故障-电磁攻击步骤 | 第61页 |
| §4.3 故障-电磁攻击实验的软硬件配置 | 第61-62页 |
| §4.4 攻击结果分析 | 第62-64页 |
| §4.5 故障－电磁攻击的防御措施 | 第64-66页 |
| §4.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 基于物理特征的 RFID 防克隆技术研究 | 第67-91页 |
| §5.1 RFID基本原理 | 第67-68页 |
| §5.2 RFID门禁系统的分析及攻击思路 | 第68-70页 |
| §5.3 RFID门禁系统的攻击实验过程及其分析结果 | 第70-79页 |
| ·读卡器与 RFID卡之间的通信频率的测量 | 第70-71页 |
| ·通信波形和数据分析 | 第71-77页 |
| ·攻击验证实验 | 第77-79页 |
| §5.4 RFID系统的防御措施 | 第79-90页 |
| ·RFID卡的防非授权读取 | 第79-80页 |
| ·RFID卡的防克隆方案 | 第80-84页 |
| ·RFID卡防克隆实验 | 第84-90页 |
| §5.5 本章小结 | 第90-91页 |
| 结束语 | 第91-93页 |
| 致谢 | 第93-95页 |
| 参考文献 | 第95-107页 |
| 攻读博士学位期间的主要研究成果 | 第107-109页 |
