基于JTAG的嵌入式硬件测试平台的设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·课题内容及意义 | 第8-10页 |
| 第二章 边界扫描技术 | 第10-17页 |
| ·边界扫描测试原理 | 第10-11页 |
| ·边界扫描器件标准结构 | 第11-17页 |
| ·测试存取通道 | 第11-12页 |
| ·TAP控制器 | 第12-15页 |
| ·指令寄存器 | 第15-16页 |
| ·数据寄存器组 | 第16-17页 |
| 第三章 采集站硬件板 | 第17-31页 |
| ·采集站硬件板结构 | 第17-20页 |
| ·可测性及互通性分析 | 第20-26页 |
| ·外部接口电路分析 | 第22-23页 |
| ·ARM电路分析 | 第23-24页 |
| ·单片机电路分析 | 第24-25页 |
| ·采集站系统框架 | 第25-26页 |
| ·测试线引出 | 第26-31页 |
| ·供电接口 | 第26-27页 |
| ·ARM JTAG接口 | 第27-28页 |
| ·ARM USART接口 | 第28页 |
| ·单片机调试口 | 第28-29页 |
| ·单片机USART接口 | 第29-31页 |
| 第四章 测试系统平台 | 第31-43页 |
| ·测试系统架构 | 第31-34页 |
| ·测试平台组件 | 第31-33页 |
| ·测试系统协议 | 第33-34页 |
| ·ARM测试子系统 | 第34-38页 |
| ·硬件环境 | 第34-35页 |
| ·软件环境 | 第35-36页 |
| ·工程代码 | 第36-37页 |
| ·测试流程 | 第37-38页 |
| ·单片机测试子系统 | 第38-41页 |
| ·硬件环境 | 第38-39页 |
| ·软件环境 | 第39页 |
| ·工程代码 | 第39-41页 |
| ·测试流程 | 第41页 |
| ·FPGA测试子系统 | 第41-43页 |
| 第五章 测试项目 | 第43-58页 |
| ·ARM测试 | 第43-49页 |
| ·ARM Remap | 第43-44页 |
| ·Parallel I/O测试 | 第44-46页 |
| ·On-Chip SRAM测试 | 第46页 |
| ·On-Chip FLASH测试 | 第46-48页 |
| ·USART本地自环测试 | 第48-49页 |
| ·External SRAM测试 | 第49-50页 |
| ·FPGA测试 | 第50-52页 |
| ·FPGA配置测试 | 第50-51页 |
| ·LED控制与I/O读写测试 | 第51-52页 |
| ·单片机测试 | 第52-58页 |
| ·EEPROM测试 | 第53-54页 |
| ·FLASH测试 | 第54-56页 |
| ·USART自环测试 | 第56-58页 |
| 第六章 测试结果输出 | 第58-64页 |
| ·串口引出 | 第58-60页 |
| ·RS232定义 | 第58-59页 |
| ·TTL转RS232 | 第59-60页 |
| ·串口驱动 | 第60-61页 |
| ·测试显示与控制程序 | 第61-64页 |
| ·MSComm控件 | 第61-62页 |
| ·测试结果显示与流程控制 | 第62-64页 |
| 第七章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 作者攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第68页 |
