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超光滑表面X射线散射特性研究

摘要第1-7页
Abstract第7-9页
目录第9-13页
第1章 绪论第13-33页
   ·引言第13页
   ·太阳活动与 X 射线波段辐射第13-14页
   ·掠入射 X 射线望远镜第14-21页
     ·X 射线在物质表面传输特性第14-15页
     ·掠入射 X 射线望远镜基本结构第15-17页
     ·掠入射 X 射线望远镜的发展第17-21页
   ·我国掠入射 X 射线望远镜的研究现状及镜面材料的选择第21页
   ·常用的薄膜制备方法第21-24页
     ·蒸发镀膜第22页
     ·溅射镀膜技术第22-23页
     ·脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition,PLD)第23页
     ·原子层沉积(Atomic layer deposition,ALD)第23-24页
   ·表面粗糙度测量方法第24-28页
     ·机械探针扫描法第24-25页
     ·光学干涉测量法第25-26页
     ·原子力显微镜(Atomic force microscope,AFM)第26-28页
   ·表面散射理论第28-30页
     ·标量散射理论第28-29页
     ·矢量散射理论第29页
     ·Harvey-Shack 线性系统理论第29-30页
   ·本论文课题来源、研究工作意义和主要研究内容第30-33页
     ·课题来源第30页
     ·研究工作意义第30-31页
     ·研究内容第31-33页
第2章 X 射线表面散射理论第33-45页
   ·表面模型和畸变波玻恩近似(Distorted Wave Born Approximation,DWBA)理论第34-40页
   ·一级矢量微扰理论第40-42页
   ·一级矢量微扰理论的适用性第42-43页
   ·小结第43-45页
第3章 X 射线散射实验装置、样品及其基本参数测量第45-63页
   ·散射实验测量系统第45-46页
   ·样品选择第46-48页
   ·薄膜厚度的测量第48-55页
     ·原理和方法第49-53页
     ·原子层沉积 Al_2O_3薄膜表面粗糙度和厚度的测量第53页
     ·结果和讨论第53-55页
   ·一种准确估算薄膜质量密度ρ的方法-XRR_(DEN)第55-61页
     ·临界角误差对密度的影响第56-57页
     ·用于准确估算薄膜质量密度ρ的 XRR_(DEN)法第57-58页
     ·XRR_(DEN)法估算薄膜密度的实验结果和讨论第58-61页
   ·小结第61-63页
第4章 超光滑表面粗糙度测量第63-91页
   ·一级矢量微扰法的误差分析第63-72页
     ·接收狭缝宽度对 PSD 函数误差的影响第63-68页
     ·入射光束宽度对 PSD 函数误差的影响第68-71页
     ·系统校准误差的影响第71-72页
   ·用原子力显微镜测量光学表面粗糙度第72-77页
     ·原理第72-73页
     ·AFM 测量及计算结果第73-77页
   ·散射实验结果及数据分析第77-89页
     ·表面散射分布第77-78页
     ·掠入射角θ_0对样品 PSD 函数的影响第78-82页
     ·不同表面粗糙度样品的 PSD 函数比较第82-83页
     ·X 射线散射法与 AFM 测得的 PSD 函数的比较第83-87页
     ·薄膜密度对 PSD 函数的影响第87-89页
   ·本章小结第89-91页
第5章 超光滑表面 X 射线异常散射现象的研究第91-103页
   ·背景第91-92页
   ·异常散射测量第92页
   ·散射分布及异常散射角位置第92-97页
   ·表面粗糙度对异常散射强度的影响第97-99页
   ·异常散射峰的半高宽度(Full width at half maxium, FWHM)第99页
   ·薄膜密度与异常散射角第99-101页
   ·小结第101-103页
第6章 总结与展望第103-107页
   ·总结第103-104页
   ·论文主要创新点第104页
   ·工作展望第104-107页
参考文献第107-115页
在学期间学术成果情况第115-117页
指导教师及作者简介第117-119页
致谢第119页

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